シリコンフォトニクスウェーハテストシステム『SWT5100』
8インチから12インチまでのウェーハに対応した高性能ウェーハレベルテストシステム!
『SWT5100』は、シリコンフォトニクスウェーハの自動テストを 行うための高性能なウェーハレベルテストシステムです。 ウェーハのローディングから光アライメントまで、完全に自動化された テストプロセスを提供。25℃から150℃までの温度制御が可能なチャックを 搭載し、光、DC、RFテストをサポートします。 GC結合およびEC結合の両方に対応し、単一ファイバーから ファイバーアレイまで柔軟に構成可能です。 【主要仕様(一部)】 ■対応ウェーハサイズ:8~12インチ ■対応ウェーハ厚:200~2000 um ■チャック温度範囲:25℃~150℃ ■対応テスト:光、DC、RF ■結合方式:グレーティング結合およびエッジ結合 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業:Yonata Electronics株式会社
- 価格:応相談