液晶ディスプレイの信頼性トータル・ソリューション
海外製液晶ディスプレイの信頼性に問題を抱えるお客様のために、信頼性試験から故障解析、材料分析までトータルで支援します。
信頼性の低い液晶ディスプレイが市場で問題を起こしています。 アイテスでは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから 試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。 さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析まで御支援します。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
定量分析×株式会社アイテス - メーカー・企業と製品の一覧
定量分析の製品一覧
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半導体製品の信頼性トータル・ソリューション
半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート
【試験・評価・分析・解析】 ●信頼性試験 ■温度サイクル試験 ■冷熱衝撃試験 ■高温保存試験 ■高度加速寿命試験 ■プリコンディショニング ■ホットオイル試験 ■In-situ常時測定 ■イオンマイグレーション試験 ■エレクトロマイグレーション試験 ■テストコンサルティンング ●評価試験 ■接合強度試験：プル/ シェア試験 ■機械的強度試験：振動・衝撃／落下試験／圧縮強度・ズレ強度 ■ESD / Latch Up / CDM試験 ■電気特性計測 ■塩水噴霧試験 ●分析・解析 ■X線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■発光解析（EMS/IR-OBIRCH） ■走査型電子顕微鏡（SEM） ■透過型電子顕微鏡(TEM) ■表面汚染分析(TOF-SIMS） ■異物分析（FT-IR)
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- 価格：応相談
低分子シロキサン定量分析
低分子シロキサンの確認手法！どの程度の発生量であるかなども分析可能
シリコーン製品から発生する低分子シロキサンが電子部品の接点周囲に 存在すると、電気火花の熱により絶縁物である二酸化ケイ素を生じ、 接点障害を引き起こす事が知られています。 こちらでは、低分子シロキサンの確認手法としてHS-GCMSによる アウトガス定量分析をご紹介。 HS-GCMS分析は、使用している電子部品の周辺に低分子シロキサンを 発生させるような部材が無いか、またどの程度の発生量であるかの分析が 可能です。サンプルサイズや条件など、お気軽にお問い合わせください。 【シリコーン系粘着テープのHS-GCMS分析】 ■シリコーン系粘着剤を使用しているテープをバイアル瓶に封入 ■130℃で30分加温した後、発生したアウトガスをヘッドスペースGCMSにて分析 ■検出された低分子シロキサンについては、環状シロキサンD5換算にて 定量を行った ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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