残留油分測定
金属部品に付着している残留油分量の測定が可能です。
金属部品は製造工程で様々な「油」が使用されますが、表面に付着した油が塗装、表面処理等の後工程で不良の原因となる場合があります。不良の発生を避けるために、部品に付着した油分量の管理が重要となります。FT-IRを用いることにより残留油分定量が可能です。
- 企業:株式会社大同分析リサーチ
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
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金属部品に付着している残留油分量の測定が可能です。
金属部品は製造工程で様々な「油」が使用されますが、表面に付着した油が塗装、表面処理等の後工程で不良の原因となる場合があります。不良の発生を避けるために、部品に付着した油分量の管理が重要となります。FT-IRを用いることにより残留油分定量が可能です。
錠剤とカプセルの全量分析や、薬剤の品質管理試験における多形分析を短時間で容易に実施することができます。
TRS100により、錠剤とカプセルの全量分析や、薬剤の品質管理試験における多形分析を短時間で容易に実施することができます。アジレントの透過型ラマン分光 (TRS) 技術は、他の分光分析メソッドよりも導入しやすく、QC アプリケーションでのメソッドの開発や展開も簡単です。TRS100 システムでは、含量均一性試験 (CU)、アッセイ、同定試験にかかる時間を 1 バッチあたり数分まで短縮できるため、コストを大幅に削減し、QC ワークフローをスピードアップできます。 TRS100 システムのトレイには、コーティング錠やカプセルを最大 300 個、ガラスバイアルや粉末サンプルは数十個、載せることができます。サンプル前処理や消耗品は必要ありません。そのため、熟練した分析スタッフでなくても扱えます。透過型ラマンを用いた CU 試験法は、ICH やレギュレータプロトコルを使用する規制当局の承認を受けています。
海外製液晶ディスプレイの信頼性に問題を抱えるお客様のために、信頼性試験から故障解析、材料分析までトータルで支援します。
信頼性の低い液晶ディスプレイが市場で問題を起こしています。 アイテスでは豊富な経験と最新設備により、信頼性試験のデザインから 試験前後の目視検査を行い、お客様の抱える信頼性問題を解決します。 さらに、故障モードの分類から故障解析、材料分析まで御支援します。
TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を評価することができる装置です
TOC計は、試料中の全炭素量(TC:Total Carbon) 、全有機体炭素量(TOC:Total Organic Carbon)、無機体炭素量(IC:Inorganic Carbon)を評価することができる装置です。 ・有機成分含有量を全有機炭素量(TOC)として評価可能 ・液体試料と固体試料の測定が可能 ・全炭素量(TC:Total Carbon)、無機体炭素量(IC:Inorganic Carbon)の測定が可能
茶カテキンとカフェインの濃度評価および製品比較
MSTではLC/MS/MSを用いて茶カテキンの定性・定量分析が可能です。本資料では、お茶を入れる温度・時間によるEGCGの濃度変化を観察しました(図1)。温度が高いほどEGCGの抽出効率が高く、抽出5分後までの抽出量が大きいことが分かりました。また、市販のお茶6製品に含まれる茶カテキン量を比較し、紅茶や烏龍茶よりも緑茶に多く含まれていることを確認しました(図2)。べにふうき緑茶には、花粉症などに対する高い抗アレルギー作用を持つメチル化カテキン(ECCG3"Me)が多く含まれています。
【無料プレゼント】イソシアネート基含有率の検量モデル作成の実例をご紹介
近赤外分光法(NIR)は、少量の試料をガラス製バイアル瓶に サンプリングして装置にセットするだけで正確な測定が可能です。 当資料では近赤外分光計と光ファイバー式透過プローブの組み合わせによる ポリウレタン合成反応過程におけるイソシアネート基含有率の検量モデル 作成の実例についてご紹介しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■実験 ■検量モデル作成 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
標準ノイズ・ソースを必要としない雑音指数測定の概念などを掲載しています。
当アプリケーションノートでは、ベクトル・ネットワーク・アナライザ R&S ZVA シリーズならびに R&S ZVT シリーズを使用した雑音指数測定に ついて解説しています。 まず、標準ノイズ・ソースを必要としない雑音指数測定の概念を説明します。 そして、さまざまな測定アプリケーションと、それらに対応する セットアップや関連事項についても述べます。 また、実際のデバイスを例にとり、測定器のセットアップならびに 測定結果を紹介しています。 【掲載内容(抜粋)】 ■R&S ZVAB-K30 - 雑音指数測定 ・測定原理 ・雑音指数の定義 ・AVG 検波器とRMS 検波器 ・AVG 検波器とRMS 検波器の値より雑音パワーの計算 ・システム・モデル など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
揮発成分混合系に対して優れた分離能を有するGCと定性・構造決定に威力を発揮するMSの特長を活かした分析システムとなっております。
GC-MSとはGC(ガスクロマトグラフィー,Gas Chromatography)とMS(質量分析,MassSpectrometry)を直結させた分析装置で、揮発成分混合系に対して優れた分離能を有するGCと定性・構造決定に威力を発揮するMSの特長を活かした分析システムとなっております。
不良品を納品したくない、物の流れを遮らずに検査を実施したい方必見。お客様と検査項目を確定し、求められる検査クオリティを実現
「不良品を納品したくない。」 「物の流れを遮ることなく検査を実施したい。」 「生産工程に検査作業を設けると生産効率を高めるのが難しい。」 そうしたお客様の声を受け、アルプス物流は、 完成品を対象にした入庫時の検査サービスをご用意しています。 お客様との打ち合わせで検査項目を確定し、求められる検査クオリティを実現。 音響機器や健康器具などのメーカー様の実績があります。 詳細はお問い合わせください。 【特長】 ■完成品を対象にした入庫時の検査サービス ■求められる検査クオリティを実現 ■音響機器や健康器具などのメーカー様の実績を有する ※以下リンクより、HPにて詳細をご覧いただけます。 ご不明点等ございましたらお気軽にお問い合わせ下さい。
メンテナンス頻度の少なく、作全自動で安定した悪臭分析を行う事が可能
『LSK-1000』は、悪臭規制物質におけるイオウ化合物 (メチルメルカプタン、硫化水素、硫化メチル、二硫化メチル)の濃縮、 注入装置です。 テトラバックに採取したサンプルを冷却剤により冷却した濃縮管に 硫黄化合物を捕集した後、加熱してガスクロマトグラフ装置へ注入します。 タッチパネルから検体毎に濃縮量を設定する事ができ、また繰り返し 分析の設定も可能です。 注入のタイミングでガスクロマトグラフ装置へスタート信号を出力する為、 全自動で安定した悪臭分析を行う事ができます。 【特長】 ■全自動で分析が可能 ■公定法に基づいた前処理を行いガスクロマトグラフに注入 ■シンプルな設計の為、メンテナンスが容易 ■タッチパネルで簡単に操作が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学的特性による定量で、フルボ酸・フミン酸の定量分析に総合的に対応します!
「腐植物質」とは、光合成により作られた有機物が微生物のループや 物理・化学的作用の過程を経て分子構造が変化した結果、 黄~茶褐色の着色や特有の蛍光特性をもつようになった物質群の総称です。 当社では、水系腐植、土壌系腐植、製品中のフルボ酸含有量など、 さまざまな試料中のフルボ酸・フミン酸の定量分析に、総合的に対応します。 この他にも、生分解過程における腐植の生成試験、LC/MSによる 分解過程追跡試験等、お客様のご相談にお応えします。 【腐植物質の分類】 ■親水性酸 Transphilic酸 ■フルボ酸 ■フミン酸 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
クロマト分離+高感度検出により含有量を正確に評価します
当社では、成分の乳化、分散、安定化、使用感のコントロールなど、 化粧品の品質を決める要素と言える界面活性剤を、様々な手法を駆使して、 定性・定量します。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■定性分析︓MALDI-SpiralTOFMS×KMD プロット解析 ■定量分析︓LC-MS/MS ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
各種光学特性を利用し、分析精度が向上
現在、日本国内では偏光顕微鏡を用いたアスベストの分析はまだあまり知られていませんが、諸外国では当方法が一般的であり弊社でも先駆けてこの技術を取り入れ、判定判断の一助としています。
半導体製品に関わる部品・装置・材料の開発評価の困難をサポート
【試験・評価・分析・解析】 ●信頼性試験 ■温度サイクル試験 ■冷熱衝撃試験 ■高温保存試験 ■高度加速寿命試験 ■プリコンディショニング ■ホットオイル試験 ■In-situ常時測定 ■イオンマイグレーション試験 ■エレクトロマイグレーション試験 ■テストコンサルティンング ●評価試験 ■接合強度試験:プル/ シェア試験 ■機械的強度試験:振動・衝撃/落下試験/圧縮強度・ズレ強度 ■ESD / Latch Up / CDM試験 ■電気特性計測 ■塩水噴霧試験 ●分析・解析 ■X線透過観察 ■超音波顕微鏡観察 ■発光解析(EMS/IR-OBIRCH) ■走査型電子顕微鏡(SEM) ■透過型電子顕微鏡(TEM) ■表面汚染分析(TOF-SIMS) ■異物分析(FT-IR)
低分子シロキサンの確認手法!どの程度の発生量であるかなども分析可能
シリコーン製品から発生する低分子シロキサンが電子部品の接点周囲に 存在すると、電気火花の熱により絶縁物である二酸化ケイ素を生じ、 接点障害を引き起こす事が知られています。 こちらでは、低分子シロキサンの確認手法としてHS-GCMSによる アウトガス定量分析をご紹介。 HS-GCMS分析は、使用している電子部品の周辺に低分子シロキサンを 発生させるような部材が無いか、またどの程度の発生量であるかの分析が 可能です。サンプルサイズや条件など、お気軽にお問い合わせください。 【シリコーン系粘着テープのHS-GCMS分析】 ■シリコーン系粘着剤を使用しているテープをバイアル瓶に封入 ■130℃で30分加温した後、発生したアウトガスをヘッドスペースGCMSにて分析 ■検出された低分子シロキサンについては、環状シロキサンD5換算にて 定量を行った ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。