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自動制御盤メーカーとして30年の実績！制御・計測等FA界のニーズに応えます！
当社では、米国NI社(ナショナルインスツルメンツ社)の 「LabVIEW」のパートナーとしてオムロン社の先端ディバイス研究所・ 理化学研究所・P&G研究所・京都大学の研究など、 最先端技術を生み出す計測装置をコンピュータベースで開発。 これらの計測技術、昭和48年創業以来培った制御技術を提供しています。 降雪と積雪それぞれの状態を瞬時に判断するFPGAボード型画像処理装置や、 多数回(10億回以上)の連続テストと精緻な特性テストが可能な 48SPSTリレーテスターなど、様々な製品を開発しています。 【事業内容】 ■各種自動制御盤の設計・製作 ■シーケンサ・モーションコントローラ・タッチパネルソフト開発 ■MEMS・半導体テスター ■画像処理装置 ■音振動テスター ■RF(高周波)テスター ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学系、照明、処理方法等の評価を、簡単操作で実現。画像処理装置
ラインカメラからのデータを二次元画像として入力し、画像処理を行う装置です。 簡単な操作で光学系・照明・処理方法等の評価が可能です。 また、一般のCCDカメラ（NTSC方式）の分解能では満足できない、高精細な 画像計測や円筒形状の製品の展開図の入力等にも適しています。 研究用として、またFA用シミュレーションマシンとして、幅広くご利用いただけます。 用途に合わせて各種ラインカメラ・移動ステージ・画像入力ボード・オプションプログラム等の自由な組み合わせが出来ます。
検査計測システム、及びPC用画像取込ボード、画像処理用LED照明装置の開発・製造・販売
産業用画像処理装置と画像による検査計測システム、及びPC用画像取込ボード、画像処理用LED照明装置の開発・製造・販売を行っております。 得意分野 画像処理の専門メーカーとして、画像処理用ハードウェア・ソフトウェア技術と製品検査計測システム技術をを生かし、高速検査から高精度計測に至るまで、お客様のニーズに合った画像による製品検査計測システムをご提案させていただきます。
ガラス基盤のアライメントマーク検出や液晶の貼り合せ時の位置決めなどの用途についてご紹介！
当資料では、半導体・液晶業界における画像センサの用途について まとめてご紹介しております。 ウェハのオリフラ位置決めやBGAのボール抜け検査、レッドインクによる バットマーク検出、ハンドリング時のウェハ位置測定、ラック内のウェハ 姿勢チェック、搬送アームの位置精度確認など多数の情報を掲載。 また、検査を成功に導くトータルラインアップや、画像処理用の 周辺機器についても掲載されております。ぜひご活用ください。 【掲載内容(一部)】 ■ウェハのオリフラ位置決め ■BGAのボール抜け検査 ■レッドインクによるバットマーク検出 ■ハンドリング時のウェハ位置測定 ■ラック内のウェハ姿勢チェック ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
