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界面評価 - メーカー・企業と製品の一覧

界面評価の製品一覧

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放射光HAXPESによる埋もれた界面の評価

検出深さが大きくなり、より深い領域の評価が可能になります!

当社で行う「放射光HAXPESによる埋もれた界面の評価」について ご紹介します。 X線光電子分光(XPS)は、表面の組成・状態分析が可能であり、 表面分析では不可欠な手法。 ラボ型XPS(Al Kα:1.5keV)では、3nm程度の極表面の評価に限られますが、 外部施設を利用した硬X線光電子分光(HAXPES):8keVにより、多層構造や 実デバイスに近いスタック構造の埋もれた界面など、より深い領域の評価が 可能となります。 【特長】 ■通常のXPSに比べて検出深さが大きい ■深いエネルギー準位からの光電子を測定 ■同時に発生するオージェ電子などの重なりがなくなるため、状態分析が容易 ■第三世代の放射光施設(SPring-8)を高輝度X線源として利用可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他 分析・評価受託

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炭素繊維系複合材料における表面処理技術のポイント 界面評価 応用

★複合材の各種表面処理技術を中心に材料設計、成形加工、応用例も含め技術の本質とその課題解決策を第1線で活躍する研究者が解説!

講 師 第1部 前田技術事務所 代表 前田 豊 氏(元 三菱レイヨン) 【著書】「炭素繊維の応用と市場」 (CMCテクニカルライブラリー) 第2部 新潟大学 大学院自然科学研究科 自然科学研究科長・教授 坪川 紀夫 氏 第3部 近畿大学 理工学部 理学科 教授 柏村 成史 氏 第4部 FIA 代表 福山 紅陽 氏 対 象 炭素繊維系複合材料の表面処理技術に困っている技術者・研究者・技術管理部門、マーケティング部門の担当者など 会 場 川崎市教育文化会館 第1学習室【神奈川・川崎】 JR・京急線「川崎」駅より徒歩12分  ※JR川崎駅よりバス出ています 日 時 平成24年2月21日(火) 10:15-16:30 定 員 30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。 聴講料 【早期割引価格】】1社2名につき56,700円(税込、テキスト費用を含む) ※但し2月7日までにお申込いただいたTech-Zone会員に限る。会員登録は無料 ※2月7日を過ぎると【定価】1社2名につき59,850円(税込、テキスト費用を含む) となります

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