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脱離分析装置×電子科学株式会社 - 企業1社の製品一覧

製品一覧

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高周波加熱型 昇温脱離分析装置

マイナス温度からの水素分析! ~1700℃の高温測定可能!

高周波加熱型昇温脱離分析装置IH-TDS1700は、超高真空中で試料を電磁誘導加熱することにより、試料から脱離する分子を四重極質量分析計(QMS)でリアルタイム観測する分析装置です。超高真空であるためバックグラウンドが低く高感度な測定が可能です。大気や発生ガスなどによる副反応の影響も大幅に抑えられているため 理想的な状態で試料からの脱離分子を観測することができます。 加熱効率の良い金属サンプルの場合、1700℃以上の加熱が可能です。また、鋼鉄材料の水素脆化因子となる鋼中拡散性水素の低温TDS測定も可能です。 装置本体の制御はPLC(Programmable Logic Controller)により自動で行われ、インターフェースにタッチパネルを採用しております。

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パッケージ内包ガス導入機構搭載型 昇温脱離分析装置

赤外線加熱型昇温脱離分析とパッケージ内包ガス分析が一つの装置で行えます!

弊社の赤外線加熱型昇温脱離分析装置に、パッケージ内包ガス破砕機構を搭載いたしました。 測定モードを切り替えることで、赤外線加熱型TDSとしても、パッケージ破砕分析装置(IVA分析)としてもご利用いただけます。 【赤外線加熱型TDS】 ・TDS1200_2に準じます。 【パッケージ破砕機構】 ・サンプルサイズ(標準):7mm×7mm×3mm(サンプルサイズに関しては別途ご相談ください。) ・測定可能な内容積:0.001ml~1ml ・分析対象ガス:H2 He H2O N2 CO O2 Ar CO2 ※詳しくはPDFダウンロードいただくか、お問い合わせください。

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