膜厚測定器のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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膜厚測定器(機) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年08月20日~2025年09月16日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

膜厚測定器の製品一覧

1~7 件を表示 / 全 7 件

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フィッシャージャパン 製品カタログ

ハンディータイプ、卓上型などの膜厚測定と材料試験機を多数掲載!

『フィッシャージャパン 製品カタログ』は、膜厚測定器、素材分析器、 微小硬さ試験機、材料試験器の販売・保守サービス等を行う、 株式会社フィッシャー・インストルメンツの製品カタログです。 電磁式、渦電流式で非破壊方式で膜厚を測定するハンディタイプの 「DELTASCOPE FMP10/FMP30」や、卓上型のマルチ測定システム 「FISCHERSCOPE MMS PC2」などを掲載しています。 【掲載内容】 ■知識・能力・経験、それらに基づいた信頼 ■膜厚測定と材料試験 ■膜厚測定と材料分析 ■材料試験 ■微小硬さ測定 ほか ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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九州ケット株式会社 事業紹介

各種測定器をご提供する九州ケット株式会社の事業紹介

九州ケット株式会社では、多くの製品が日本の基準測定器に採用され、 さまざまな分野でお役に立っているケツト科学研究所・日本電色工業・ いすづ製作所の代理店として、測定器の販売・メンテナンスを行っています。 また、国公立試験研究機関等を対象に理化学機器全般の販売も行っています。 【営業品目】 ■測定器 ■理化学機器 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 水分測定装置

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穀粒判定機『RN-700』

玄米・精米の流失はザっと広げて、パッと知る。

『RN-700』は、新開発の画像認識エンジンを搭載した穀粒判定機です。 トレイ上の米を光源を変えながら撮影し、撮影した複数枚の画像を処理。 米一粒ごとの品質を解析します。 操作は、トレイに米を広げてセットするだけで、自動的に結果の出力まで 行われます。 【特長】 ■透過光、反射光、スポット透過光の3枚の画像を撮影 ■屋外でもハッキリ見やすい有機ELディスプレイ ■SDカードへの保存やPCへの接続が可能 ■粒種ごとの粒数と割合が本体に表示 ■一粒ごとの品質だけでなく寸法(長さ、幅、面積)も測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 食品試験/分析/測定機器
  • 分析機器・装置

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簡易膜厚測定器『オートクレーター』

試料調整が不要!成膜された試料をそのまま測定できます

『オートクレーター』は、回転する鋼球で試料を研磨し、その研磨痕を 光学顕微鏡などにより測長することで、膜厚を測定する試験機です。 断面作成のための、切断・研磨・樹脂包埋などの試料調整は不要です。 成膜された試料をそのまま測定できます。 また薬品処理などにより、膜の組成の変化を色調の違いとして 変化させる事により、各層毎の膜厚を評価できます。 【特長】 ■試料調整が不要 ■成膜された試料をそのまま測定 ■多層膜の評価が可能 ■純国産 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 膜厚計
  • その他計測・記録・測定器

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Micro Pioneer 蛍光X線膜厚測定器 XRF-2000

コーティング工程における膜厚測定の問題を一掃!

メッキ厚測定の現場ニーズに応える高性能膜厚検査装置

  • その他計測・記録・測定器

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光干渉式膜厚測定装置『Model3100』

多数の納入実績を誇る業界標準機!リニアアレー受光素子を採用

『Model3100』は、受光素子にリニアアレー素子を採用し、 高速測定を実現した光干渉式膜厚測定装置です。 スペクトル解析ソフトを標準搭載することにより、多層膜(通常3層まで)の 同時測定および光学定数(n,k)の測定が可能。 各種膜特性に適合したきめ細かなパラメータの設定ができ、より豊富な 各種膜構造の膜厚測定ができます。 【特長】 ■高感度高分解能ヘッド(オプション)にて酸化膜換算で70μmまで測定可能 ■100倍レンズ(φ0.75μmの微小スポット)も使用可能 ■プロセスに適合した特殊膜測定用のプログラム設定が容易に実現可能 ■さまざまなアプリケーション(磁気ヘッド、FPD、材料研究等)に対応し、  用途別に試料台作成可能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 光学測定器

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光干渉式膜厚測定装置『TohoSpec3100』

R&D分野において利用出来る特長を兼ね備えた光干渉式膜厚測定装置!

『TohoSpec3100』は、ナノメトリクス社より技術移管された 光干渉式膜厚測定装置です。 多数の納入実績を誇る業界標準機で、測定再精度2Å以下を実現、 リニアアレー受光素子を採用。 高信頼性、高精度、高速をコンセプトとしており、多層膜同時測定や 光学定数(n,k)測定に利用可能です。 【特長】 ■スペクトル解析ソフトにより、多層膜(通常3層まで)の同時測定,  光学定数(n,k)の測定が可能 ■各種膜特性に適合したパラメータの設定ができ、  より豊富な各種膜構造の膜厚測定が可能 ■プロセスに適合した特殊膜測定用のプログラム設定が容易に実現可能 ■米国マイクロソフト社のWindows(R)7対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 光学測定器

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