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多種多様な欠点検査を自動で行えます
回避することが難しい検査員毎の検査結果のバラツキを極力無くし、安定した検査が行えます。少ない人員でも全数検査及び、最大12000ピクセルの解像度を利用して、広視野かつ高分解能の検査が可能です。 液晶パネル用部材やガラスの塗布ムラの検査を自動的に行うシステムです。 生産ラインにおいて、多種多様な欠点検査を自動で行います。 液晶用カラーフィルター、着色ガラス等の塗布ムラ検査を自動的に行うシステムです。
人が行う官能外観検査から、設備による全自動検査へ！完全なトレーサビリティを導入
当社では、半導体パッケージサービスとして、ウェハ加工及び バンプボンド用ウェハ2D＋3D自動検査を行っております。 設備によるバンプの2D(チップ表面状態/ダイシング状態検査)と 3D(バンプボンド測定)の技術を組み合わせた全数検査が可能。 ウェハ受入検査から後検査まで一貫対応しており、完全な トレーサビリティを導入しております。 【特長】 ■一貫した製造・検査ライン ■完全なトレーサビリティ ■ウェハ起因か工程起因かを切り分けることが可能 ■後工程への不良流出の抑止が可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
検査結果のばらつきを無くし安定した検査が可能
欠点(輝点や滅点/輝線や滅線等)の検査を自動的に行います。 今まで目視検査による判定結果のバラツキをなくすことを可能にします。
２タイプのシステムで正確な計測・検査を実現
マーク自動検査は、液晶などの貼り合わせなどに必要なアライメントマーク、ガラスに印刷された各種マークなどの良否を自動判定します。
微小内径の部品にも臨機応変に対応
軸受け、ボルトなどの微小部品の内面部検査を行います。各種部材の組み付け不良、内面加工不良などの検査を自動に行います。
製品の外観検査工程において、AIによるOK/NG判定を実装したシステムの構築をご支援いたします。
工業用製品の外観検査はこれまで検査員の手や目で実施されてきましたが、AIと画像認識技術により高精度でリアルタイムかつ人的コストを抑えた検査が可能になってきています。 生産ラインにカメラ・センサを設置し、AI分析による検査を実施することでヒューマンエラーの発生がなく、不良品の流通リスクを低減できます。 【想定課題】 ・外観検査をする人員や場所が多く必要であり、製造数量増加したいがボトルネックになっている ・検査員の経験値によって検査品質にブレが発生し、多段階検査が必要になっている 【想定効果】 ・AI判定で省スペース化が実現され、製造量の変動にも容易に追従可能 ・モデルの統一による検査品質安定化
車載 内装用 各種スイッチやボタンに！自動検査を行いたいなどの用途に好適
『AKIRA』は、製品をセットするだけで自動検査できる 外観検査装置です。 作業者が検査ステージに製品をセットするだけで 自動検査を行うことが可能。 ご用命の際は、お気軽に当社までお問い合わせください。 【特長】 ■作業者が検査ステージに製品をセットするだけで自動検査を行う ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
自動検査が行いたいなどの用途に好適！車載・内装用各種スイッチやボタンでの利用実績あり
『AKIRA』は、製品をセットするだけで自動検査することができる 画像検査装置です。 作業者が検査ステージに製品をセットするだけで自動検査を行います。 自動検査が行いたいなどの用途に好適。 ご用命の際は、お気軽に当社までお問い合わせください。 【特長】 ■作業者が検査ステージに製品をセットするだけで自動検査を行う ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
