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通電検査システム - メーカー・企業と製品の一覧 | イプロスものづくり

通電検査システムの製品一覧

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全自動通電検査システム『TY-CHECKER DG430MW』

協栄システム・44MD治具互換機!  高速検査、高速メカタクトを実現!全自動で硬質基板の導通・絶縁・四端子検査を行います。

『TY-CHECKER DG430MW』は、高速検査、高速メカタクトを実現した 全自動通電検査装置です。 投入から排出まで僅か5秒程度で完了し、量産品検査に好適です。 導通四端子検査搭載仕様により、配線抵抗や接触抵抗などの影響を受けずに基板の抵抗のみを測定可能です。 また、専用アダプターをつければお手持ちの44MD治具が当機で使用出来ます。 協栄システムと業務提携している弊社の『DG』で安定した運用が可能です。 【特長】 ■高速検査 ■高精度4端子検査対応 ■協栄システム44MD治具互換対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 #基板検査#通電検査#電気検査#オープン#ショート#四端子#四端子検査#マイクロショート

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ワンプレスタイプの手動通電検査装置がリニューアル! 定番機!

通電検査システムの基本形、様々な基板の電気検査に使用されています。(PCB・FPC・導通検査・絶縁検査・四端子検査・スパーク)

ワンプレスタイプの手動通電検査システムです。 35年以上の導入実績、信頼のTY-CHECKERシリーズ! (導通・絶縁・四端子・マイクロショート・スパーク検査 他) 各種仕様についてはお気軽にご相談ください。 【特長】P20E ■最大検査サイズ:550×340mm ■マイクロメーター付下治具調整機構装備。 ■作業側裏側共に安全に配慮した構造。 #基板検査#検査装置#通電検査#電気検査#導通#絶縁#オープン#ショート#リーク#四端子#検査

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基板通電検査システム『TY-CHECKER DS401AT』

プリント基板用通電検査機、自動/半自動による高周波検査が可能です(導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出)

『TY-CHECKER DS401(AT)』は、従来のY方向ステップ&リピート搬送に X方向移動(横移動)を追加した通電検査システムです。 テンションをかけない独自の専用プレート保持方式とテンション 保持方式の両方に対応し、製品に合わせて選択が可能です。 測定部を入れ替えれば、シートまたは個片での高周波特性検査ができ、 治具固定式のメリットを活かして安定した自動/半自動高周波検査を 実現します。 【特長】 ■XY方向へのステップ&リピート搬送 ■治具ヘッドのサイズダウンに貢献(治具代低減) ■選べる製品保持方法 ■高周波特性検査対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 #基板検査#検査装置#通電検査#電気検査#導通#絶縁#オープン#ショート#リーク#四端子#検査

  • その他検査機器・装置
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自動化・効率化事例【フレキシート自動投入搬出システム】自動判別!

自動判別により、効率化とポカヨケを両立! 搬送システムと双腕ロボットで小回りの利くシステム構築が可能です。(FA自動化導入事例)

●プリント基板製造装置、オートカットラミネーター(伯東製)の自動投入搬出システムとして製作。 【特徴】  〇合紙を自動判別で抜き取り、機材のサイズを自動判別して安定した吸着搬送を行います。  〇オートカットラミネーター通過後の機材のサイズを自動判別し双腕ロボットにて搬出します。 【効果】  〇様々な長さの機材を一度に投入することが可能となり、作業効率が著しく上がりました。

  • AH101正面.png
  • AH10側面図.png
  • AH10平面図.png
  • 搬送・ハンドリングロボット
  • スカラロボット
  • 基板搬送装置(ローダ・アンローダ)
  • 通電検査システム

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【航空宇宙向け】TY-CHECKER Type E テスター

高速・高精度検査で航空宇宙分野の信頼性を向上

航空宇宙業界では、製品の安全性と信頼性が最重要課題です。過酷な環境下で使用される電子機器の基板においては、微細な欠陥も見逃すことは許されません。導通不良や絶縁不良は、重大な事故につながる可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、これらのリスクを低減し、製品の信頼性向上に貢献します。 【活用シーン】 * 航空機、宇宙船、人工衛星などの電子基板検査 * 高信頼性が求められる電子機器の品質管理 * 製造工程における品質保証 【導入の効果】 * 検査時間の短縮 * 不良品の早期発見 * 製品の信頼性向上 * コスト削減

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【半導体向け】TY-CHECKER Type E テスター

高速・高精度検査で半導体製造の歩留まり向上に貢献!

半導体業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、基板の正確な検査が不可欠です。特に、微細化が進む中で、導通不良や絶縁不良、ショートなどの問題は、歩留まりを大きく低下させる要因となります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、これらの問題を早期に発見し、歩留まり向上に貢献します。 【活用シーン】 * 半導体基板の製造工程における検査 * FPC(フレキシブルプリント配線板)の検査 * パッケージ・モジュール系基板の検査 【導入の効果】 * 不良品の流出を防止し、歩留まりを向上 * 検査時間の短縮による生産性向上 * 多様な検査ニーズに対応可能

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