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SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析
CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同一断面で行いました。CIGS膜の断面を作製し、電子ビームを走査することによって、起電流（EBIC）を測定し、起電流の面内分布を可視化しました。また、同一面のEBSDを測定することにより、起電流の分布と結晶粒との対応をとりました。
SEMによる結晶方位解析
CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト化・大面積化・高品質化を期待されている次世代の太陽電池として開発が進められており、その際に結晶情報が必要とされています。EBSD法ではCIGS膜の結晶粒評価が可能です。 EBSD法で得られる結晶情報は主に配向性・結晶粒径などです。
クライオSEMを用いた液体状試料の断面構造観察
液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、従来は液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いて測定しておりました。しかしながら、実際に用いる液体中で微粒子がどのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法でした。 そこで、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工＋SEM観察を行って評価した事例をご紹介します。
SEM・STEM・EDXによる触媒粒子の評価
燃料電池の電極は、カーボンに触媒であるPt粒子またはPt合金（PtRu等)粒子が担持されています。この触媒粒子は数nmと微細構造のため、形態観察、組成分析にはSEMやTEM分析が用いられています。 初期状態での評価の他に通電後の劣化として合金組成の変調、Ruの溶出、触媒粒子径の増大が報告されていますが、これらの評価に高空間分解能でのHAADF観察やEDX分析が非常に有効です。また、SEM観察では担体のカーボンの形状や触媒粒子の存在状態を確認することができます。
PLマッピングで検出した結晶欠陥の高分解能TEM観察
PL（フォトルミネッセンス）マッピングでは、発光箇所から結晶欠陥位置の特定が可能です。 更に同一箇所を高分解能STEM観察（HAADF-STEM像）を行うことで積層欠陥を捉えることができます。 本事例では、市販のSiCパワーデバイスについてPLマッピングとSTEMを用いて調査を行いました。 PLマッピングにより積層欠陥位置を特定後、欠陥端部分についてμサンプリングを行い、断面STEM観察を実施しました。
微細なCNFの分散状態や樹脂のラメラ晶を観察！TEM観察とSEM観察の特長もご紹介
当社ホームページでは「セルロースナノファイバー(CNF)複合材料の 形態観察」についてご紹介しております。 「HDPE/CNFのTEM観察事例」や「HDPE/CNFのSEM観察事例」の 写真を掲載。 TEM観察では、微細なCNFの分散状態、これを取り囲む樹脂のラメラ晶が 観察でき、SEM観察では、比較的大きなCNFの分散状態を観察できます。 【掲載写真】 ■HDPE/CNFのTEM観察事例 ■HDPE/CNFのSEM観察事例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子 顕微鏡(TEM)でセルロースナノファイバー(CNF)の構造を観察！
当社で行った「セルロースナノファイバー(CNF)観察」について ご紹介いたします。 これまで培ってきた樹脂材料の走査型電子顕微鏡(SEM)観察、透過型電子 顕微鏡(TEM)観察のノウハウを生かして、市販されているセルロースナノ ファイバー(CNF)試料を観察。 表面または断面から、nmオーダー太さのCNFミクロフィブリル1本まで 鮮明に見ることができました。 【観察内容】 ■走査型電子顕微鏡(SEM)観察 ・CNFをより細かく分散 ■透過型電子顕微鏡(TEM)観察 ・細かく分散させたCNFの断面観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
これまでに培ったSEMによる形態観察技術で、食品容器包装材料の層構成の観察が可能です!!
固形ルウの容器は食品の保存性が必要なことから、容器は多層構造になっています。 このような食品容器も、電子顕微鏡で断面観察することで層構成を明らかにすることが出来ます。 ある市販の固形ルウの容器は、FE-SEM観察から約３μm～約４０μmの厚みの７層の多層構造で あることが分かりました。 これをもとに更に材質分析(＊１)をFT-IRやラマン分析で進めた結果、各層の材質についても 把握することが出来ました。 また、容器の保存性についても、酸素透過度、水蒸気透過度の測定(＊２)で把握することができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
企業交流展示会にて弊社サービスをご紹介いたします！
2023年11月8日（水）につくば国際会議場にて開催されます、 フード・フォーラム・つくばの企業交流展示会に出展いたします。 本展示会は、 食品に関わる企業が自社の製品や技術をアピールする展示会であり、 機器や商品などの展示に加えて デモンストレーションやサンプル配布などを行っております。 弊社ブースでは、以下のサービスをご紹介いたします。 ・ 食品の電子顕微鏡観察 ・ アミノ酸・ジペプチドの分析 お近くにお越しの際はぜひ足をお運びいただけますと幸いです。 みなさまのお越しをお待ちしております。
新しい透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-1400Flashは、高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた加速電圧は120kVの新しい透過電子顕微鏡です。スループット良く、ハイスピードでデータを取得できます。 〇特長 ・高感度sCMOSカメラ 瞬Flashカメラ ・新機能 超広視野モンタージュシステム Limitless Panorama（LLP） ・新機能 光学顕微鏡画像リンク機能 Picture Overlay ・新デザイン ピュアホワイトカラーとLEDランプのコラボレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、偏光顕微鏡、質量分析計のご紹介
おすすめの3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS 屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。400倍の倍率で分散染色観察を可能にします。 ◆日本電子株式会社 JMS-T100LP AccuTOF LC-Express 大気圧イオン化 飛行時間質量分析計 マルチイオン化・堅牢性・容易なメンテナンスを特長とした高い生産性を目指したハイスループット質量分析計です。低極性から高極性まで、幅広い試料を分析することが可能です。
参加費無料！MicroEDを利用した絶対立体配置の決定について報告
当社では、「MicroED結晶構造解析の基礎と応用 パート2～MicroEDを 利用した絶対立体配置の決定について～」ウェビナーを開催いたします。 今回は“パート2"と称しまして電子線の多重散乱効果を十分に考慮した “絶対立体配置の決定"に関してご紹介。 本手法は、軽元素のみで構成される分子における絶対立体配置の決定に 関しても驚異的な威力を発揮する優れた手法となります。 解析事例として本ウェビナーでは、複雑な天然物、合成医薬品原薬に対する MicroEDによる絶対立体配置の決定について報告いたします。 【開催概要】 ■開催日時：2024年10月15日(火)14：00～14：45 ■参加：無料 ■会場：Microsoft Teamsによるウェビナー開催 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
0.1nm～1nmと原子レベルの観察の他、光学レンズと超深度レンズの画像を合成し、精細な画像取得も可能！
当社の試験装置「マルチアングルレンズ VHX-D510」をご紹介します。 試料表面に電子線を照射し、反射した電子線を像として映し出し、 観察する装置。試料室(チャンバー)内を真空状態にし、 超深度レンズ(電子ビームの照射)により試料を撮影します。 光学レンズと超深度レンズの画像を合成し、精細な画像を 得ることが可能です。 【装置性能】 ■拡大倍率：30倍～5000倍 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学顕微鏡よりもはるかに細かい部分まで見ることができます！
電子顕微鏡は、光の代わりに電子を使って物を拡大して見ることが できる特別な顕微鏡です。 電子は光よりも波長が短いので、光学顕微鏡よりもはるかに細かい 部分まで見ることができます。 また主に2つの種類があり、一つは、透過型電子顕微鏡(TEM)で、 もう一つは走査型電子顕微鏡(SEM)です。 【特長】 ■透過型電子顕微鏡 ・試料に電子線を照射し、透過した電子線を検出することで試料の 内部構造を観察することができる ■走査型電子顕微鏡 ・試料に電子線を照射して生じる反射電子や二次電子を検出することで 試料表面の形態を観察することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
前処理・分析技術を駆使して課題解決！種々の材料解析と分析評価で開発を支えます
当社は、データ解析(AI/機械学習等)を活用し、製品の付加価値向上や 業務改善をサポートいたします。 目前にある課題やお困りごとを、材料開発、分析、データ解析の専門家が スピーディーに解決。 専門家集団がプロジェクトを組みワンストップでご要望にお応えします。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【当社の主な保有設備】 ■FE-TEMTEM(3D、プリセッション)、FE-SEM 、FE-EPMA ■FT-IR、ラマン、NMR、AFM、レーザー顕微鏡 ■X線CT、XPS、XRF、XRD ■TG/DTA(水蒸気ガス化)、DSC ■GC(MS)、LC(MS)、TOFMS、HPLC、IC、ICP、GPC、DART、AAS ■VMS等各種磁気測定装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
