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クライオSEMを用いた液体状試料の断面構造観察
液体に分散させて用いる微粒子の粒径・構造を評価する際、従来は液体を乾燥させて粉体として微粒子を取り出し、電子顕微鏡を用いて測定しておりました。しかしながら、実際に用いる液体中で微粒子がどのように分散しているのかを調べるには不向きな測定法でした。 そこで、液体試料内で微粒子がどのように分散しているかを直接評価するため、クライオ加工＋SEM観察を行って評価した事例をご紹介します。
SEM・STEM・EDXによる触媒粒子の評価
燃料電池の電極は、カーボンに触媒であるPt粒子またはPt合金（PtRu等)粒子が担持されています。この触媒粒子は数nmと微細構造のため、形態観察、組成分析にはSEMやTEM分析が用いられています。 初期状態での評価の他に通電後の劣化として合金組成の変調、Ruの溶出、触媒粒子径の増大が報告されていますが、これらの評価に高空間分解能でのHAADF観察やEDX分析が非常に有効です。また、SEM観察では担体のカーボンの形状や触媒粒子の存在状態を確認することができます。
PLマッピングで検出した結晶欠陥の高分解能TEM観察
PL（フォトルミネッセンス）マッピングでは、発光箇所から結晶欠陥位置の特定が可能です。 更に同一箇所を高分解能STEM観察（HAADF-STEM像）を行うことで積層欠陥を捉えることができます。 本事例では、市販のSiCパワーデバイスについてPLマッピングとSTEMを用いて調査を行いました。 PLマッピングにより積層欠陥位置を特定後、欠陥端部分についてμサンプリングを行い、断面STEM観察を実施しました。
新しい透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-1400Flashは、高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた加速電圧は120kVの新しい透過電子顕微鏡です。スループット良く、ハイスピードでデータを取得できます。 〇特長 ・高感度sCMOSカメラ 瞬Flashカメラ ・新機能 超広視野モンタージュシステム Limitless Panorama（LLP） ・新機能 光学顕微鏡画像リンク機能 Picture Overlay ・新デザイン ピュアホワイトカラーとLEDランプのコラボレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、偏光顕微鏡、質量分析計のご紹介
おすすめの3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS 屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。400倍の倍率で分散染色観察を可能にします。 ◆日本電子株式会社 JMS-T100LP AccuTOF LC-Express 大気圧イオン化 飛行時間質量分析計 マルチイオン化・堅牢性・容易なメンテナンスを特長とした高い生産性を目指したハイスループット質量分析計です。低極性から高極性まで、幅広い試料を分析することが可能です。
イオン注入後のアニール条件の違いによる差異を確認
酸化ガリウムGa2O3は、SiCやGaNよりもバンドギャップが広く、優れた物性を有することから、高効率・低コストが期待できるパワーデバイス材料として注目を集めています。デバイスの開発には、特性を左右する不純物濃度や結晶性の制御が重要です。本資料では、イオン注入による結晶構造の乱れから生じるダメージ層及び表面粗さの変化を、アニール条件毎に観察した結果を示します。 測定法：TEM・AFM 製品分野：酸化物半導体・パワーデバイス 分析目的：形状評価・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応 したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報から STEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します。
PE中のCNFの観察や、PE発泡体のセル壁高次構造などを写真付きでご紹介！
当社ホームページでは、形態観察の「透過型電子顕微鏡(TEM)・走査型電子 顕微鏡(SEM)による樹脂材料観察事例」をご紹介しております。 透過型電子顕微鏡(TEM)観察事例では、PE中のCNFの観察をはじめ、 PE発泡体のセル壁高次構造や、HDPE表面近傍のラメラ構造観察などを掲載。 また、走査型電子顕微鏡(SEM)観察事例では、ABS樹脂の耐候性試験前後の 比較や、自動車バンパー材断面構造解析などについてもご紹介しております。 ぜひ、ご覧ください。 【掲載内容(一部)】 ■透過型電子顕微鏡(TEM)観察事例 ・PE中のCNFの観察 ・PE発泡体のセル壁高次構造 ・HDPE表面近傍のラメラ構造観察 ・HIPS/ABS系のモルフォロジー観察事例 ・PC/ABS系材料中のモルフォロジー観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微細なCNFの分散状態や樹脂のラメラ晶を観察！TEM観察とSEM観察の特長もご紹介
当社ホームページでは「セルロースナノファイバー(CNF)複合材料の 形態観察」についてご紹介しております。 「HDPE/CNFのTEM観察事例」や「HDPE/CNFのSEM観察事例」の 写真を掲載。 TEM観察では、微細なCNFの分散状態、これを取り囲む樹脂のラメラ晶が 観察でき、SEM観察では、比較的大きなCNFの分散状態を観察できます。 【掲載写真】 ■HDPE/CNFのTEM観察事例 ■HDPE/CNFのSEM観察事例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子 顕微鏡(TEM)でセルロースナノファイバー(CNF)の構造を観察！
当社で行った「セルロースナノファイバー(CNF)観察」について ご紹介いたします。 これまで培ってきた樹脂材料の走査型電子顕微鏡(SEM)観察、透過型電子 顕微鏡(TEM)観察のノウハウを生かして、市販されているセルロースナノ ファイバー(CNF)試料を観察。 表面または断面から、nmオーダー太さのCNFミクロフィブリル1本まで 鮮明に見ることができました。 【観察内容】 ■走査型電子顕微鏡(SEM)観察 ・CNFをより細かく分散 ■透過型電子顕微鏡(TEM)観察 ・細かく分散させたCNFの断面観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
これまでに培ったSEMによる形態観察技術で、食品容器包装材料の層構成の観察が可能です!!
固形ルウの容器は食品の保存性が必要なことから、容器は多層構造になっています。 このような食品容器も、電子顕微鏡で断面観察することで層構成を明らかにすることが出来ます。 ある市販の固形ルウの容器は、FE-SEM観察から約３μm～約４０μmの厚みの７層の多層構造で あることが分かりました。 これをもとに更に材質分析(＊１)をFT-IRやラマン分析で進めた結果、各層の材質についても 把握することが出来ました。 また、容器の保存性についても、酸素透過度、水蒸気透過度の測定(＊２)で把握することができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
参加費無料！MicroEDを利用した絶対立体配置の決定について報告
当社では、「MicroED結晶構造解析の基礎と応用 パート2～MicroEDを 利用した絶対立体配置の決定について～」ウェビナーを開催いたします。 今回は“パート2"と称しまして電子線の多重散乱効果を十分に考慮した “絶対立体配置の決定"に関してご紹介。 本手法は、軽元素のみで構成される分子における絶対立体配置の決定に 関しても驚異的な威力を発揮する優れた手法となります。 解析事例として本ウェビナーでは、複雑な天然物、合成医薬品原薬に対する MicroEDによる絶対立体配置の決定について報告いたします。 【開催概要】 ■開催日時：2024年10月15日(火)14：00～14：45 ■参加：無料 ■会場：Microsoft Teamsによるウェビナー開催 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
0.1nm～1nmと原子レベルの観察の他、光学レンズと超深度レンズの画像を合成し、精細な画像取得も可能！
当社の試験装置「マルチアングルレンズ VHX-D510」をご紹介します。 試料表面に電子線を照射し、反射した電子線を像として映し出し、 観察する装置。試料室(チャンバー)内を真空状態にし、 超深度レンズ(電子ビームの照射)により試料を撮影します。 光学レンズと超深度レンズの画像を合成し、精細な画像を 得ることが可能です。 【装置性能】 ■拡大倍率：30倍～5000倍 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
