1～3 件を表示 ／ 全 3 件
グリーンシートに印刷された電極パターン不良を3Dスキャンで高精度に検出します。
電極パターンの凹凸、厚み不良の他、パターンの太り、細り、シミ、異物不良を検出します。 またパターンの位置度検査が可能であり、グリーンシートの積層管理にご使用いただけます。 積層品質向上、歩留まり向上にぜひご検討ください。 【特長】 ■パターン高さやパターンの凹凸検査（高精細3D検査） ■微細な欠陥やパターンの寸法検査（高精細2D検査） ■グリーンシート毎のパターン位置度管理 ■積層デバイスの歩留り向上に貢献します ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
進化した3D AOIと3D SPIに加え、両面同時2D AOIも登場！中国で多数実績のある外観検査装置メーカーです。
JUTZEの基板向け外観検査装置の紹介です。 3DAOI ♦ インラインタイプ ♦ M、Lサイズに対応 ♦ 隣接部品の影を作らない4方位プロジェクタ 3DSPI ♦ インラインタイプ ♦ M、Lサイズに対応 ♦ コストを抑えた2方位プロジェクタ ♦ 多彩な回析ツールを装備 2DAOI ♦ インラインタイプ、オフラインタイプ ♦ M、Lサイズに対応 ♦ 高速、高画質、高検出力、低価格 ♦ 2020年より両面同時検査モデルを販売開始 ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問合せください。
高速3D画像処理を行い、欠陥検査を行なう装置です。
独SIEMENS発 独NanoFocus製3Dレーザーセンサーを搭載した超高速3D外観検査装置です。
