1～5 件を表示 ／ 全 5 件
複数個のDUTの同時試験が可能！要望に応じた制御方法や試験条件にカスタマイズ
当社では、二年間でおよそ100種類以上のパワーサイクル試験を受託しており、 この間に蓄積されたノウハウを活かしたパワーサイクル試験装置を 開発、製造、販売することになりました。 近年、HEVなどの車載用を中心に産業用機器や発電装置など、パワー半導体が 幅広い分野で使用されるようになり、開発競争も激しくなっています。 その市場背景を反映し、安価で高性能なパワーサイクル試験装置のご要望を 頂くようになりました。 【特長】 ■デバイスの破壊の前兆を検知し、破壊に至る前に試験を停止させることが可能 その結果、破壊初期のサンプルを確保することが可能 ■要望に応じた制御方法や試験条件にカスタマイズ ■タイムシェアリング方式による複数個のDUTの同時試験が可能 ■パワーサイクル試験規格(ED4701/600)の試験が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
パワー半導体の信頼性試験に欠かせないパワーサイクル試験装置です。
本装置は、試料（IGBT、IPM、SiC、GaN、Diode 等）に、規定の電力を消費させ、決められた時間内で断続通電を行い、試料の信頼性試験を行う装置です。 同時に熱抵抗測定も可能であり、そのデータをHOST PCに取り込みます。
試験のプロが考えた設計開発者のためのカスタムメイドパワーサイクル試験機
当社の『パワーサイクル試験機』は、大手自動車メーカー様等、 設計開発者様からの受託試験を通じて100種類を超える試験システムを 開発した経験・ノウハウを元にシステムを統合し製品化したものです。 リアルタイムで熱抵抗測定が可能。 ハイパワーIGBT高電流に対応し、車載用デバイスに好適です。 また、計測データをパワーサイクル試験装置へそのまま取り込み可能な 「K-factor専用測定器」もご用意しております。 【特長】 ■K-factorの自動測定が可能 ■2in1モジュール 6in1モジュール対応 ■リアルタイムで熱抵抗測定が可能 ■デバイスの完全破壊前に試験の停止が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハイパワーIGBT高電流に対応！K-factorの自動測定が可能なパワーサイクル試験機
クオルテックでは、設計開発者のための『パワーサイクル試験機』を 取り扱っています。 電源装置1台で複数DUTを試験できるほか、連続通電試験にも対応可能。 デバイスの状態をリアルタイムに表示し、チップ温度（Tj）の正確な 測定が可能です。 年間200件以上の受託試験を通じて培った実績とノウハウを全て搭載しております。 【特長】 ■デバイスの状態をリアルタイムに表示 ■設計開発者のニーズに応じた試験が可能 ■デバイスの完全破壊前に試験の停止が可能 ■リアルタイムで熱抵抗測定が可能 ■2in1デバイス 6in1モジュール対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試験のプロが考えた、設計開発者のためのカスタムメイドパワーサイクル試験機です。
クオルテックの『パワーサイクル試験機』は、大手自動車メーカー様など、 設計開発者様からの受託試験を通じて100種類を超える試験システムを開発した 経験・ノウハウを基にシステムを統合し製品化したものです。 車載用デバイスに好適で、大電流（1 800A）にも対応。年間200件以上の 受託試験を通じて培った実績とノウハウを全て搭載しました。 また、同社パワーサイクル試験機専用の過渡熱抵抗測定モジュールを開発し、 パワーサイクル試験機での過渡熱抵抗測定が可能となりました。これにより パワーサイクル試験中にあらかじめ設定したスケジュールに基づいて過渡熱抵抗 を測定することで、より多面的なデバイス劣化の情報を得ることが可能です。 試験機導入後であっても、本オプションの追加により投資を無駄にすることなく 機能アップが図れますので、ご要望の際はぜひお問い合わせください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
