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半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づく！ラベル用光学検査装置のご紹介
日本CBLが取り扱うFT SYSTEM社製の光学検査装置 『CE600-SE/VA/CR』をご紹介します。 LABEL CONTROL MACHINEは、部分的またはラップアラウンドを 問わず、さまざまな種類の容器に適用される不透明または部分的に 透明なラベルの存在を保証するのに理想的です。 ラベルプレゼンスシステムの構成は、適用されるコンテナとラベルの タイプに応じて定義。 半透明ラベルの制御は、高度なスマートセンサーに基づいています。 【特長】 ■技術：光学 ■応用：ラベル用 ■インライン ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
深さ数μmの微小なキズや異物も見逃さない。目視検査に頼っていた欠陥検知を、独自の散乱光検出技術によってワンショットで撮像・検知！
製造現場・外観検査工程でこのような 「微細欠陥検査」 の課題はありませんか？ ● 微細なキズなどがカメラに映らず、熟練検査員の目視検査とせざるを得ない ● 作業員ごとの検査品質のばらつき ● 明確な検査エビデンスが残らない ● 少子高齢化による検査員の人手不足 ▼ ワンショットで“見える化” 微細欠陥可視化 ！ 光学検査技術 OneShotBRDF が解決します！ 光学検査技術OneShotBRDFとは、光の反射角度を選択する「多波長超同軸開口フィルター」を組み合わせた独自の手法により、欠陥凹凸のわずかな散乱光をワンショットで撮像可能にする技術です。 ――― ポイント ――――――――――――――――――――― ◆ 認識困難なミクロなキズや凹凸を可視化 ◆ 多波長同軸開口フィルタによる散乱光識別でワンショットで高速検査 ◆ 散乱光を色分離し、微細欠陥を可視化 ◆検査対象物に合わせた3種類の技術をラインナップ ◆本技術はライセンスアウト方式にてご提供 ―――――――――――――――――――――――――――――
【ドイツから日本上陸】生基板の検品に好適！高速スキャニング＆高精細撮影による完璧な検品を
dxfファイルやガーバーデータを基準にして、基板の歪みや加工ミスを検品します。
限りない品質保証への挑戦！目視判定で数μ単位の欠陥検出が可能です
吉城光科学の『検査』技術をご紹介します。 検査環境整備と検査技術向上により、目視判定で数μ単位の欠陥検出が可能。 また、顕微鏡・マイクロスコープによる検査及びヒューマンエラーを 無くすため検査の自動化も進めており、顧客ニーズを満足させる事が 可能です。 【主要設備（抜粋）】 ■レーザー干渉計（φ150解析装置付） ■レーザー干渉計（φ60） ■オートコリメーター ■投影機 ■分光光度計 ■レーザー式光量測定器 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【ドイツから日本上陸】生基板の検品に好適！高速スキャニング＆高精細撮影による完璧な検品を
dxfファイルやガーバーデータを基準にして、基板の歪みや加工ミスを検品します。
