【CS200Tシリーズ】透過型極低温単軸ひずみセル
X線回折・散乱を行いながら、単軸負荷をサンプルに加え、歪み測定が可能！
CS200Tシリーズは、実験室ベース、シンクロトロンまたはその他のビームラインにおいて、透過モード（回折または散乱）で測定しながら、大きな単軸負荷をサンプルに加え、ひずみを測定することができます。CS200Tシリーズは2インチボア内に収まるように設計されているため、広範な商用およびカスタムメイドのクライオスタットや真空チャンバーに対応しています。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：テガサイエンス株式会社
- 価格：応相談
