P/N判定、比抵抗測定仕分機(CJT-01型) Siウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定 φ4”、5”、6”、8”インチSiウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定、比抵抗測定を行いその結果によりあらかじめレシピにて設定したカセットに仕分けを行います。 企業:株式会社ジャステム 価格:応相談 半導体検査/試験装置その他半導体製造装置 製品を詳しく見る ブックマークに追加いたしました ブックマーク一覧 ブックマークを削除いたしました ブックマーク一覧 これ以上ブックマークできません 会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます 無料会員登録