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走査電子顕微鏡(金属) - メーカー・企業と製品の一覧

走査電子顕微鏡の製品一覧

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【事例】クリップボード金属部の変色原因調査

金属の腐食による変色を観察、分析!変色原因調査事例をご紹介

当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察:変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析:更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析:ラマン分光による構造解析 ■変色原因:変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【事例】クロメート処理膜の膜厚測定

1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認!膜厚測定事例をご紹介

当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料:クロメート ■断面膜厚計則:クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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