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本装置は、試料(IGBT、IPM、SiC、GaN、Diode 等)に、規定の電力を消費させ、決められた時間内で断続通電を行い、試料の信頼性試験を行う装置です。 同時に熱抵抗測定も可能であり、そのデータをHOST PCに取り込みます。
BJT過渡熱抵抗測定器は、コレクター・エミッター間に指定の電力を印加し、チップ温度を上昇させ、その前後の微少電流(Im)によるベース・エミッター間電圧の差(ΔVBE)を求める装置です。これにより試料の熱抵抗を推測することができます。 IGBT過渡熱抵抗測定器は、BJT過渡熱抵抗測定器と同様にゲート・エミッター間の電圧差(ΔVGE)を求める測定器です。 P-MOS FET過渡熱抵抗測定器は、BJT過渡熱抵抗測定器と同様にゲート・ソース間の電圧差(ΔVGS)を求める測定器です。 BJT過渡熱抵抗測定器のベース・エミッター間でダイオードのΔVFを測定することができます。
チップ単体での静特性(DC特性)試験装置です。 微小電流から大電力まで対応。
各種パワーモジュールを対象とした静特性(DC特性)測定器です。 微小電流から大電力まで対応。
各種半導体(IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等)のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置(AC特性測定装置)です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。
1台でスイッチングタイム、VCE(SUS)、負荷短絡測定を実現 高温/低温環境下での動特性(AC特性)測定に最適 コペル電子独自のノウハウにより低Ls測定が可能 加熱/冷却用チャンバー付きも可能
1.正確な0℃を高精度にコントロール 2.電子冷却式の為、スイッチを入れるだけでわずらわしい操作や保守が不要 3.長期間連続して使用可能 4.各種熱電対がご指定により内蔵可能
工事不要で使えるガス式の自動給油器。防爆エリア対応で廃棄も簡単
11万点超の機構部品・電子部品が短納期で届く。最新カタログ進呈
静音・省メンテな搬送ラインを実現。発塵しにくい摩擦式コンベア