テセックの製品・サービス一覧

当社は、自重落下ハンドラ『LT4530』を取り扱っています。 「LT4530-T」は、高スループット、8サイト、高低温測定、高周波 コンタクトに完全対応した新鋭機。 「LT4530-D」は、4サイト、高温測定に特化し、LT9900で 実現した、徹底したJAM防止策をLT4530にも取り入れ、高稼働率を実現。 ご要望に応じて2モデル提供が可能です。 【LT4530-T 特長】 ■高スループット ■高稼働率 ■高周波測定（PTB方式）をQFNに拡大 ■高低温測定 ※ダウンロード頂けるPDF資料は、英語版のカタログです。 　詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

『4170-IH』は、QFN、CSPなどのリードレスデバイスを ダイシング後、そのままウェハリング上でテストするフィルムフレーム テストハンドラです。 測定前にビジュアルによる位置補正（xyzθ）をすることにより、 デバイスの正確な位置情報とプローブピンの好適な測圧がストリップ上の 全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。 【特長】 ■ハイスループット ■高耐荷重、高推力テーブル ■ストリップ貼り付けエリアを拡大 ・縦260mm×横300mm以内（WLCSPはφ300mm以内） ■バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応 ■品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換 ※ダウンロード頂けるPDF資料は、英語版のカタログです。 　詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置

『471-TT』は、LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を 実現したDCテスタです。 長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における 複数チップ同時測定を実現。 当社の強みである高電圧・大電流測定技術も継承。複数チップを同時測定処理 することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。 【特長】 ■複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)によるコストパフォーマンスの 　向上 ■LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮を実現 ■リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現 ■当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても安定した測定を実現 　（Max 2kV/20A） ■電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへの負荷を軽減が可能 ■あらかじめ設定された印加可能最大電流値（プローバチャックの電流容量値） 　以下となるように、同時に測定するチップ数を自動で分割設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• テスタ

『431-TT』は、パワーデバイス測定のノウハウを継承し、かつ V/Iソース測定モジュールを採用した新しいコンセプトのDCテスタです。 オープンなアーキテクチャーとなっており柔軟で多様なシステム構成が可能。 大電流・高圧測定、高速・パラレル測定にも対応し、オペレーション画面上 での波形モニタなどのメンテナンス機能も兼ね備えています。 【特長】 ■VI ソースメジャモジュール構成 ■本体で1.2KV/130A（最大2.2KV/200A）まで測定可能 ■高速測定 ■マルチデバイステスト（2in1デバイスなど2DUT同測） ■ウェハパラレルテスト（2チップの同測） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• テスタ

『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスの ファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・ 独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・ 高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。 また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部 ユニットも準備しております。 【特長】 ■多数個同時測定（～96DUT） ■高精度温度制御（±1℃以内） ■60OFでの測定が可能 ■UPH20,000個以上を実現 ■磁気テスト（オプション）が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• 半導体検査/試験装置