昭和電気研究所の製品・サービス一覧

『SEL-V170BT』は、端子と端子の間にある異物候補を取得する画像に 応じた好適な光学系、当社独自の照明を採用して高度な検査を可能とした 端子間異物検査装置です。 ICのIN/OUTの間に検査枠を設ける事で異物候補の検出ができ、異物候補の 大きさ、輝度/色相/彩度のヒストグラム、異物と気泡の面積差と面積比の比較、 異物平均輝度等の設定を段階的に切り分けて異物候補を検出します。 【特長】 ■端子間異物を好適な光学系を用いて検査する ■端子と端子以外でも検査が可能 ■詳細設定により異物候補と気泡の切り分けが可能 ■「SEL-V170AL」と連結可能 ■1枚搬送のみ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 欠陥検査装置
• その他検査機器・装置

『SEL-V170AL』は、IC、FPCの接合ズレ量の検査と接合部の圧痕数 カウントを、取得する検査画像に応じた好適な光学系、照明を 採用して高精度な検査を可能にしたACF接合検査装置です。 ズレ検査と圧痕カウントをそれぞれ独立したステージで行う事により、 検査タクトの高速化を図り、製造ラインの生産性を確保。 生産管理情報に基づき、品質トレンドを見える化して製造ラインの 管理が容易になります。 また、2枚搬送できる「V170Ax3」もご用意しております。 【特長】 ■接合のズレ/圧痕カウント/異物を好適な光学系を用い検査する ■ライン生産性を確保出来る高速検査を行う ■品質の見える化をサポート ■1枚搬送のみ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 欠陥検査装置
• その他検査機器・装置

『ウェハクラック・エッジ検査装置』は、1台で複数種の欠陥を検出する事が 可能な検査装置です。 目視検査では発見し辛いウェハのクラック、また、ウェハ外周のエッジ 欠損を、高速に撮像、検出できます。 当社では低価格にてご提供しておりますので、お気軽に お問い合わせください。 【特長】 ■低価格 ■高速・高検出能力 ■1台で複数種の欠損の検出に対応 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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