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株式会社MJP

住所東京都中央区八丁堀3丁目9番7号泰和ビル2階
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半導体・電子部品

半導体・電子部品

半導体・電子部品のご紹介です。

【歯車検査装置】自動外観センサ『FIS-100』【特許出願中】

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せください。

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【ピンポン方式】自動外観センサ『FIS-100』【特許出願中】

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【実績動画あり】『良品検査システム』イントレイチップ自動外観検査

【適した対象物】 ◎製品のバラツキが小さいもの（ウエハ、リードフレーム） ◎生産数量の多いもの（コネクタ、ボルト、ナット） ◎手を使わずに検査できるもの（飲料の異物、ラベル） ◎高速撮像が可能なもの（歯車、チップソー） ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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自動外観センサと検査ソフトを活用した『良品検査システム』

【適した対象物】 ◎製品のバラツキが小さいもの（ウエハ、リードフレーム） ◎生産数量の多いもの（コネクタ、ボルト、ナット） ◎手を使わずに検査できるもの（飲料の異物、ラベル） ◎高速撮像が可能なもの（歯車、チップソー） ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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【インライン外観検査に】自動外観センサ『FIS-100』

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【外観検査の効率化】自動外観センサ『FIS-100』

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【メリットと検出方法】自動外観センサ『FIS-100』

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自動外観センサ『FIS-100』【比較検査の原理】

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自動外観センサ『FIS-100』【検査方法】

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【外観検査の効率化のために！】自動外観センサ『FIS-100』

【適した対象物】 ■製品のバラツキが小さいもの（ウエハ、リードフレーム） ■生産数量の多いもの（コネクタなど、ボルト・ナット） ■手を使わずに検査できるもの（飲料の異物、ラベル） ■高速撮像が可能なもの（歯車、チップソー） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問合せください。

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