菱進テックの製品・サービス一覧

当資料では、半導体試験に関する6つの主な課題解決事例をケースごとに掲載しております。 例えば「テスタ老朽化で稼働維持が困難になったケース」や、 「テスト開発や測定モジュール開発のリソースが不足のケース」など。 背景・課題・導入・成果の4項目で分かりやすく解説しております。 当資料は無料進呈中です。下記のダウンロードよりご確認ください。 【掲載概要】 ■テスタ老朽化で稼働維持が困難 ■テストに必要なテスタ仕様が不足 ■ウエハのレーザートリミングができない ■信頼性試験、故障解析ができない ■車載製品のウエハテストでお困り ■テスト開発や測定モジュール開発のリソースが不足 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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• 半導体検査/試験装置
• その他半導体製造装置

当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。 製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・ テストボード／プローブカードの開発製作を行っています。 「OST（Outliers Screening Test）」では、 自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、 ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。 テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れた データのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにて ウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する 「GAT」テストなどがございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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菱進テックでは、寿命試験をはじめとする信頼性試験を行っています。 シグナルジェネレータや、ハイパワー高温高湿炉・液層熱衝撃炉、 静荷重試験機などの設備を用いて試験を行います。 【試験一覧】 ■寿命試験 ■強度試験 ■静電気 ■はんだ耐熱 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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菱進テックでは、半導体ウエハレーザートリミングの開発・量産を行っています。 お客様のテストデータやカットデータをそのままお送りください。 当社装置用へデータ変換プログラムを製作し、トリミングを行います。 量産効率（トリミングスピードアップ）や、トリミング精度向上を目的とした レイアウト設計（ヒューズ配置など）をご提案致します。 【特長】 ■当社装置用へデータ変換プログラムを製作しトリミング ■量産効率やトリミング精度向上を目的としたレイアウト設計をご提案 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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菱進テックでは、半導体検査（ウエハテスト）サービスを行っています。 自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、 ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化する OST（Outliers Screening Test）などの技術を提供。 その他に静電気管理や地震対策、信頼性試験などがあります。 【ウエハテストの技術】 ■PAT(Part Average Testing) ・目的：テストの個別項目の測定値について、分布を算出、 　主分布より外れたデータのチップを不良化 ■GAT(Geometric Analysis Testing) ・目的：テスト結果のマップデータにて、ウエハ上の位置的な分布より、 　良品分布から外れたチップを検出、不良化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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当社では、半導体検査（ウエハテスト）として電気特性検査・レーザートリミング・外観検査を行うと共に、信頼性試験も行っています。 またお客様のご要望に応じ、テスト開発・装置変更・生産能力改善を行います。 製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法構築から、テストプログラム開発、 テストボード・プローブカードの開発まで柔軟な対応が可能です。 さらに、保有クリーンルームは実質清浄度「クラス10」であり、 半導体を中心に異物混入の影響が大きい製品のテストが実施可能です。 ※詳細については、お気軽にお問い合わせください。

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