半導体試験に関する課題の解決事例を背景・課題・導入・成果の4項目で分かりやすく解説！
当資料では、半導体試験に関する6つの主な課題解決事例をケースごとに掲載しております。 例えば「テスタ老朽化で稼働維持が困難になったケース」や、 「テスト開発や測定モジュール開発のリソースが不足のケース」など。 背景・課題・導入・成果の4項目で分かりやすく解説しております。 当資料は無料進呈中です。下記のダウンロードよりご確認ください。 【掲載概要】 ■テスタ老朽化で稼働維持が困難 ■テストに必要なテスタ仕様が不足 ■ウエハのレーザートリミングができない ■信頼性試験、故障解析ができない ■車載製品のウエハテストでお困り ■テスト開発や測定モジュール開発のリソースが不足 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
カタログ（2）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
当社は、半導体ニーズを可視化し、柔軟かつ高精度な半導体試験を行います。 お客様のご要望に応じ、製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法構築から、 テストプログラム開発、テストボード・プローブカードの開発まで柔軟な 対応が可能です。まずはお気軽にお問合せください。