生産数量に合わせたテスター能力改善をご提案致します。
当社は、お客様仕様に合わせたテスト開発・生産能力改善をご提案致します。 製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法の構築・テストプログラム開発製作・ テストボード／プローブカードの開発製作を行っています。 「OST（Outliers Screening Test）」では、 自動車向け製品の品質管理として、良品チップの更なる品質向上を行うため、 ウエハテスト結果より分布外れチップを検出し不良化。 テストの個別項目の測定値について、分布を算出、主分布より外れた データのチップを不良化する「PAT」や、テスト結果のマップデータにて ウエハ上の位置的な分布より、良品分布から外れたチップを検出、不良化する 「GAT」テストなどがございます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
当社は、半導体ニーズを可視化し、柔軟かつ高精度な半導体試験を行います。 お客様のご要望に応じ、製品仕様、テスト仕様に合わせ、テスト手法構築から、 テストプログラム開発、テストボード・プローブカードの開発まで柔軟な 対応が可能です。まずはお気軽にお問合せください。
