Semi Nextの製品・サービス一覧

弊社の『 KGD 』は、4Site並列テストとなり、常温高温の静的+動的試験ができる検査装置です。 UPHは高く1000～1200、テスト効率高く、テストコストを大幅削減。 また、各種のLD/ULDボックスに対応。プローブの密閉構造により、 検査の安全性と信頼性を確保します。 【特長】 ■各種のLD/ULDボックスに対応 ■温度範囲 RT-200C（オプションで-45C） ■3000V/1200Aに対応 ■4Site並列テストや静的+動的試験のフルテストができる ■特別に設計された回路により、回路インダクタンスが 　15nH以下であることを保証 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

Semight PB6800は、半導体業界に広く導入されているハイエンドSiC KGDダイハンドラーです。SiCパワーチップのベアダイレベルにおける動的および静的パラメータ試験に特化しており、高信頼なKGD（Known Good Die）選別を実現します。 本システムはモジュール設計を採用しており、フレームリング、テープ&リール、トレイなど多様なダイ供給方式に対応。さらに、ハードドッキング接続や複数ステーションでの常温／高温試験も可能であり、高電圧アーク保護機能も備えています。 SiCパワーデバイスの量産工程における試験効率と歩留まり向上に大きく貢献するソリューションです。