Semi Nextの製品・サービス一覧

精密計測と高性能出力を両立した、研究開発・信頼性試験に最適なベンチトップ型SMU（ソース・メジャー・ユニット）シリーズ。 Semightの高分解能SMU製品は、±200V/±1A（DC）から±3A（パルス）、さらには±60V/±10A（パルス）まで対応可能な幅広い電圧・電流範囲をカバーし、最大1fA/1μVから10fA/100nVの測定分解能を実現。最大1MS/sのADCサンプリングレートと、自社開発の高精度・高速応答制御システム（Adaptive PFC）を備え、微小信号の正確な計測から高速パルステストまで幅広い用途に対応します。

S3030Fは、高電圧・高出力対応の単一チャネル型ソースメジャーユニット（SMU）であり、電圧・電流の同時出力および測定を1台で実現します。 最大180Wの電力出力、±3500Vの高電圧、±120mA（DC）の高電流、および最大10GΩの高抵抗測定に対応しており、コンパクトかつ高コストパフォーマンスな設計が特長です。 本製品は、以下のような高電圧測定が求められる研究・評価用途に幅広く活用されています： ▶GaN / SiCなどのパワー半導体特性評価 ▶絶縁材料・複合材料の電気試験 ▶高電圧リーク電流の測定 また、S3030FはSCPIコマンドに準拠しており、プログラミングによる操作が容易です。 さらに、複数台の同期動作にも対応しており、生産ライン等の評価システムにも統合可能で、測定効率の向上および試験コストの削減に貢献します。

単一チャネルの高電圧半導体パルス発生ユニットであり、調整可能な高精度・高電圧のパルス信号を出力することができます。 ・高電圧レンジ ±40Vの出力に対応し、NVM（不揮発性メモリ）テストの技術条件を満たします。 ・高速スルーレート対応の高電圧 1000V/μsの高速スルーレートを実現する高電圧パルスソースにより、より鋭いエッジの生成が可能です。 ・PXIeインターフェース PXIeインターフェース設計に基づき、標準PXIeシャーシに適合可能。マルチチャネル拡張が容易で、他のPXIe計測機器とのシャーシ共有にも対応し、利便性の高い半導体テストシステムを構築可能です。 ・多レベルパルス出力 2レベルや3レベルのパルス出力に対応し、複数パルスの組み合わせを実現。半導体テストにおける多段階パルスのニーズに応えます。 ・ALWG機能 CSVベースでのユーザーによるテキスト編集に対応し、任意のリニア波形信号を出力可能です。 ・ソフトウェア機能 GUIは非常に直感的かつ簡潔に設計されており、各チャネルの出力電圧波形設定を簡単に構成できます。

▶ 高精度・高信頼性の電流ソース性能 最大1.5Aの出力に対応し、最小パルス幅3μsを実現。 負荷に応じた最適制御により、オーバーシュートや波形歪みを抑制。 ▶ 高速テスト性能 最大100MS/sのADCサンプリングレートに対応。 NPLC（積分時間）値をユーザー設定可能で、柔軟なテスト制御が可能。 ▶ 柔軟なケーブル設計で多用途に対応 最大2mの長尺出力ケーブルでも安定出力。 レイアウト自由度が高く、装置統合にも適応。 ▶ パルス電流・電圧のリアルタイム読取 DUT上のパルス電流および電圧降下をリアルタイムで読み取り可能。 試験条件と測定結果を同時にモニタリング・フィードバック。 ▶ マルチチャンネル・マルチモデルとの同期測定 複数チャネル・異なるSMUモジュール間での同期測定が可能。 大規模な自動測定システム構築にも対応。

▶ 適応型高精度・高速制御 ユーザー設定可能なAPFCパラメータにより、多様な負荷条件下でも高速かつ高精度な出力を実現 ▶ 高性能DC測定 4象限ソース＆メジャー機能による高電圧・高電流測定に対応 1fA・100nVの高分解能測定が可能 オートレンジ機能搭載 ▶ 高速テスト 最大1MS/sのADCサンプリングレート NPLC値のプログラマブル設定に対応 ▶ 多彩な測定モード ローカル／リモートセンシングの両方に対応 リニア・ログ・リスト等、最大8Kポイントのスイープモードを搭載 ユーザー定義のソースディレイ設定での測定が可能 8チャネル内部トリガバスおよび2チャネル外部DIOによる同期測定に対応 ▶ 直感的なUIとリモート制御 PC上のGUIツールによるリモート操作が可能 標準SCPIプログラミングに対応 ▶ 保護機能を内蔵 過熱、過電圧、過電流に対する保護機能を搭載

S2019Cは、高精度・コンパクト・高コストパフォーマンスを兼ね備えた4チャネルPXIeソースメジャーユニット（SMU）です。電圧・電流の出力および測定の両方に対応しており、最大±40V、±500mA（DC）、±1A（パルス）の出力が可能です。 従来のSCPIコマンドに対応しており、プログラミングも容易です。標準的なPXIeシャーシに幅広く対応し、複数カードの同期動作もサポートしています。 S2019Cは量産テスト環境への統合が可能で、テスト効率の向上およびコスト削減に貢献します。

WAT6600は、DC測定・キャパシタンス測定に加え、リングオシレータなどの高周波特性評価やフラッシュメモリテストにも対応する、高効率な並列パラメトリックテストシステムです。 複数チャネルを同時に測定可能なため、ウェーハ工程でのスループットを大幅に向上。精度・速度の両立により、量産ラインおよび評価工程に最適です。 主な特長： 正確なDC／CV測定 高周波アプリケーション対応（リングオシレータ測定など） フラッシュメモリの機能評価も可能 高い並列性によりテスト時間を短縮

S2035Hは、±200Vの電圧出力と±1A（DC）／±3A（パルス）の電流出力に対応した、高精度・コンパクト・高コストパフォーマンスな1チャネルベンチトップ型SMU（ソース／メジャーユニット）です。 最小1fA／100nVの測定精度を誇り、6½桁表示に対応。視認性の高いカラーLCDと直感的なGUIを備え、研究開発や材料特性評価、微小電流測定に最適な一台です。