ジェイエイアイコーポレーションの製品ラインアップ

当社のエリアスキャンカメラ「Go-X Series」は、「包装検査や ロジスティクス」分野でも利用されております。 バーコード類やロゴマークなどのシャープネスを維持しつつ、 ブランドカラーなどの重要な色値をチェック。 インクスポットやすじの検出もできるように、常に最微にいたるまで 検査システムをサポートします。 【用途(一例)】 ■食品・飲料検査 ■自動車製造検査 ■電子部品検査 ■包装検査やロジスティクス ■医療・ライフサイエンス ■屋外・交通管理 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『WAA-1300-GE-TEC』は、400〜1700 nmの広帯域（可視光+SWIR）に対応したInGaAs産業用エリアスキャンカメラです。 ペルチェ冷却（TEC）システムを内蔵し、ダークノイズを最小限に抑えながら長時間にわたる安定した高感度撮像を実現。 通常の可視光カメラでは識別が困難な素材の組成・水分含有量・内部欠陥を高コントラストで可視化します。 130万画素（1280 × 1024）・最大90 fps・GigE Visionインターフェースを採用し、高速な産業検査にも対応します。 【特長】 ■ 可視光からSWIRまで400〜1700 nmの広帯域に対応するInGaAsエリアスキャンカメラ ■ ペルチェ冷却（TEC）内蔵でダークノイズを低減し、長時間安定稼働を実現 ■ 1.3MP（1280 × 1024）・最大90 fps・グローバルシャッタ採用 ■ ROI機能・ビニング機能で柔軟な撮像設定が可能 ■ GigE Visionインターフェースで標準ネットワーク環境への容易な組み込みを実現 ※詳細な分光感度特性や寸法図などはPDF資料をご参照ください。

透明な包装材、ウェハ内部の欠陥、白色錠剤のわずかな色差、大型基板の微細な不良。 可視光の通常カメラでは見逃しやすい検査課題に、JAIのマシンビジョンカメラが応えます。 SWIR、3板プリズム分光、超高解像度など、検査対象に合わせて選べる5機種をご紹介します。 【こんな検査にご活用いただけます】 ■半導体ウェハの内部欠陥・アライメントマークの検出 ■青果・食品・包装のSWIR選別、ヒートシール部の検査 ■基板・錠剤・フラットパネルの色検査、微細不良の検出 ※製品のラインアップについては、ぜひ「基本情報」をご覧ください。 ※詳しくは無料進呈のカタログをダウンロードしてご覧ください。 ■展示会出展概要 ・展示会名：国際画像機器展2026 ・会期：2026年12月2日（水）～12月4日（金）10:00～17:00 ・会場：パシフィコ横浜 展示ホールD ・小間番号：決まり次第掲載いたします