【基本測定】 ■測定波長範囲 400nm～1000(1700)nm(波長範囲は仕様による) ■測定膜厚範囲 150Å ～50(250)μm(測定膜厚は仕様による) ■光学定数測定範囲 1000Å ～5(10)μm(測定範囲は仕様による) ■測定時間 0.3～3 秒以内（膜種によって異なる） ■繰返し再現性 ±10Å以内あるいは±0.3％以内どちらか大きい数値 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【取扱製品】 ■画像処理関連技術 　・エッジ欠陥検査装置 　・ガラス外観検査装置 　・BGA/CSP外観検査装置 ■半導体（通信／MEMS）関連技術 　・GEMドライバ 　・EES(Equipment Engineering System) 　・半導体装置向けT-BOX(Translator Box) 　・膜厚測定装置 　・MEMSセンサー検査装置(加速度センサー／角速度センサー) 　・MEMSセンサー検査装置(圧力センサー) ■OEM（ハード／ソフト）関連技術OEM開発　　など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【欠陥検査画面】 ■最新6枚の検査結果を表示 ■欠陥情報や欠陥画像の表示、検査枚数(良品・不良品枚数)なども表示 【条件設定画面】 ■ガラスサイズや欠陥種別ごとのパラメータを設定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ワークに印字されているOCRフォントを読取り、ワークをポケットに振り分けるシステムです。 ◆特徴◆ ◆任意の１フォントを登録して、高速文字読取をします。 ◆取り込んだ画像と読込んだデータをハードディスクに保存します。 ◆70Kgの用紙で360枚まで一括処理できます。 ◆正しく読み取ったワークに処理年月日・処理番号などを印字できます。 ◆◇◆詳細は資料請求またはお問合せ下さい◆◇◆

TFT・LCDガラスの歪みの検査を行うシステムです。 ◆特徴◆ ◆ガラスに保護フィルムが付着した状態でも検査出来ます。 ◆厚さの違う数種類ガラスでも、検査出来ます。 ◆検出する歪みのしきい値を任意で設定。 　その値を基に、検出した歪みデータを色別に表示。 ◆ガラスサイズを任意で設定。 ◆表示方法は、二次元表示と三次元表示の選択。 ◆検査結果データは、CSV形式で保存。 ◆◇◆詳細は資料請求またはお問合せ下さい◆◇◆