【仕様（一部）】 ■周波数帯範囲：10kHz-20MHz ■ダイナミックレンジ：>80 dB ■Resolution Band Width（RBW）：30KHz、15KHz、7.2KHz、3.6KHz、1.8KHz、900Hz、 　450Hz、220Hz、110Hz、60Hz、30Hz、15Hz、7Hz （In case of Gauss Window） ■最大送信電圧：25 Vp-p ■周波数設定：32 bit 【その他仕様】 ■最小分解能：0.023 Hz ■A／D変換：100 MS／s ／16 bit ■寸法：160（W）×210（D）×90（H）mm ■重量：1.7kg ■電源：DC12V／1A ■付属品：AC adapter 100-240VAC 50／60Hz USB cable Carrying Case ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 超音波発振器

【仕様（一部）】 ■最大出力：1kW・630Vp-p（出力インピーダンス　50Ω時） ■最大デューティサイクル：1％ ■繰り返し周波数：2kHz 未満 ■最小パルス幅：200ns ■最大パルス幅：30μｓ ■外観寸法：19cm×5.1cm×30.5cm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 高周波・マイクロ波部品
• アンプ
• その他電子部品

【高解像度スキャンシステム】 ■0.1μm各軸最小移動量 ■最高500MHzの高周波対応（オプション） ■高速A/D変換ボード搭載 ■有効スキャンエリア200×150（mm） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 欠陥検査装置
• その他画像関連機器

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他情報システム
• 開発支援ツール（ICE・エミュレータ・デバッガ等）

【ラインアップ】 ■特許技術を使用したPA機種 　・FAAST-PA ■コンベンショナルPA機種 　・SOCOSWIFT-PA 　・SOCOSCAN-PA ■マルチチャンネルUTボード 　・SOCO-8P-UT 　・SOCO-8S-UT ■シングルチャンネルUTボード 　・SOCO-1-UT ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• 欠陥検査装置

●マルチチャンネル探傷器 ・シーケンシャルで8ch構成（マルチプレクサ方式） ・パルスエコー/透過法/ピッチキャッチ ・スクエアパルスによる送信 ・1chあたりの最大PRFは20KHz÷使用ch数

• 欠陥検査装置

●1ラックあたり最大256ch.（フルパラレル） ・パルスエコー ・透過法 ・リニアスキャン ・セクタースキャン ・DDF ・パラレルファイアリング ・カスタムフォーカシング ●スクエアパルスによる送信 ●PRF20KHz（最大） ●1ビームあたりの送信遅延則は最大1 ●同時処理できる受信遅延則は最大4

• 欠陥検査装置

※詳しくはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 試験機器・装置
• その他計測・記録・測定器
• ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）

【主な機能】 ●1ラックあたり最大256ch（フルパラレル） ・パルスエコー ・透過法 ・リニアスキャン ・セクタースキャン ・DDF ・パラレルファイアリング ・カスタムフォーカシング ●スクエアパルスによる送信 ●PRF20KHz（最大） ●1ビームあたりの送信遅延則は最大1 ●同時処理できる受信遅延則は最大4

• 欠陥検査装置

【特徴】 ■高速・高解像度新型スキャンシステム →最小0.5μm各軸移動量 →有効スキャニングエリア 350mm ×350mm（※拡張可能） →音響インピーダンスの差では見れない欠陥を検出できる、非線形超音波法システム対応 ■高速超音波全波形収集 ■2ch 同時データ ■ユーザーフレンドリー →省ペース： 700(W)×750(D)×1,300(H)mm　(スキャナー本体) →設置サイズ： 1,500(W)×800(D)×1,350(H)mm →言語： 多国語対応（英語/中国語/フランス語/他） →OS： Windows10標準

• 超音波発振器
• 画像処理機器

【概要】 IS-350は水浸式の超音波探傷装置です。 検査対象を壊すことなく、内部検査を行うことができます。電子部品から金属材料に至るまで幅広いアプリケーションに対してご使用頂けます。 【対象アプリケーション】 　◆電子部品、半導体パッケージ内部欠陥検出と評価 　◆接合構造のボンディングのボイド検出と評価 　◆金属材料の評価 【特徴】 　◆拡張性 IS-350はお客様のご要望に応じてハード、ソフトともにカスタマイズを加えることが可能です。 アプリケーションに応じて適切な装置の製造が可能です。 【機器構成】 ◆有効スキャンエリア ＜基本構成＞ 350×350(mm) ＜オプション＞ 中型　　　450×450(mm) 大型　　　600×600(mm) その他、ご要望に応じた拡張が可能 ＜対応周波数＞ 250Khz～500Mhz ◆機械操作精度 0.5μｍ ◆本体サイズ 700W×750D×1300H(mm)（標準）

• 試験機器・装置

【特徴】 ■高速・高解像度新型スキャンシステム →最小0.1μm各軸移動量 →有効スキャニングエリア 200mm ×150mm →デスクトップサイズの水浸式超音波探傷装置 →重量：31kg (制御部を含む) ■高速超音波全波形収集 ■2ch 同時データ ■ユーザーフレンドリー →省ペース： 570(W)×450(D)×490(H)mm　(スキャナー本体) →重量：31kg (制御部を含む) →言語： 多国語対応（英語/中国語/フランス語/他） →OS： Windows10標準 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

• 試験機器・装置

【特徴】 ［DPR300］ ○コンピュータベイスフルデジタルコントロール ○パルスアンプリチュードは最高450V（オプションで900Vも可能） ○＜5ns （10～90％）パルス立ち上り時間 ○ダンピング（16ステップ） ○35MHz（-3dB）レシーバー帯域（オプションで50MHz 帯域も可能） ○ウルトラローノイズレシーバー（35MHz 帯域で49μVp-p） ○80dB レシーバーゲイン　 ○ハイパス・ローパス周波数フィルター（各6ステップ） ［DPR500］ ○コンピュータベイス・フルデジタルコントロールパルサーレシーバー ○デュアルチャンネルパルサーレシーバー（独立したレシーバ-を2チャンネル収納） ○500／300／50MHz レシーバー帯域（-3dB） ○探触子にマッチするリモートパルサー（交換可能） ○72／80dB ロー・ノイズレシーバー ［PRC50］ ○コンピュータのPCIバススロットに装填使用するハーフサイズのボードタイプ型 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

• 試験機器・装置
• 超音波発振器

【特徴】 ［SP-801A パルサーユニット］ ○パルス電圧調整 →ネガティブ400V スクエアウェーブパルスの電圧は2dB ステップで 　50Vまで可変可能（-18dB） ○超高電力パルス出力 →4Ω負荷時のパルスパワー（W）は約25KW ○理想のパルス幅調整 →固定：0.5, 1, 2.25, 5MHz, 可変： Low, High の6 ポジションで構成 →20ns～1.25μs をカバー（LFタイプは0.1μs～10μs） ○内部・外部トリガ－信号 →0.17Hz～10KHz の設定（20ステップ）が可能 ［BR-640A レシ－バユニット］ ○100KHz～50MHz の全周波数レンジ ○ゲイン調節範囲は､トータル76dB （-12～+64dB） 1dBステップ ○High／Low入力インピーダンス切替え →50Ω またはハイ・インピーダンス（10KΩ）入力に切り替え可能 ○アプリケーション対応、各種プリ・アンプ（Tuned,Untuned）を製作可能 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

• 試験機器・装置
• 超音波発振器

【特徴】 ○超音波非線形研究を支援するRITEC社製 ○高性能・高出力超音波パルサー・レシーバーは 　送信波形に含まれる非線形成分を限りなく抑えた設計 ○RITEC社で採用しているサイン波トーンバーストパルサー →スクウェアウェーブパルサーでは得られない低歪・高出力信号を 　センサーに供給 ○標準の8KWサイン波トーンバーストパルサー →電磁超音波探触子（EMAT)を十分に駆動できる ○100dBのローノイズレシーバ →EMATで受信された微弱な超音波信号を必要なレベルに低歪で増幅 ○RITEC社のハイパワー製品には自動シャットダウン機能が標準で装備 ○探触子の故障や配線の短絡などから送信部を保護 ○前面パネル表示とキーパッドにより外部制御用コンピュータを必要としない 　（RS-232インタフェースを介して外部コンピュータから制御することもできます） ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

• 試験機器・装置

【特徴】 ○非接触超音波検査用に設計された高周波数安定 ○初期設定が不要なレーザー光源 ○MOPA (Master Oscillator Pulsed Amplifier) 方式 ○低出力・高安定シードレーザーを増幅して高出力を供給 ○PDLの頑強なフラッシュアンプ技術 →実験室から厳しい工場環境までどのような環境でも使用可能 ○レーザーは40mまでの光ファイバーで供給可能 ○工業用試作機や商用検査システムに柔軟に対応可能 【仕様】 ○方式：MOP ( Master Oscillator Pulsed Amplifier ○波長：1,064nm ○光学周波数安定度：< 10KHz ○定格ピーク出力：> 500W (ファイバー出力) ○定格パルス幅：> 80usec ○最大繰返し周波数：100Hz ○フラッシュランプ寿命：>200,000,000 (閃光回数) ○寸法：800mm x 670mm x 930mm ○制御インターフェース：イーサーネットまたは RS232C ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

• 試験機器・装置
• その他計測・記録・測定器
• 超音波発振器

【特徴】 ○RITEC社製 RAM-5000シリーズ ○ハイパワー・RFバーストパルサ、広帯域レシーバ、 　フェイズディテクタ/インテグレータモジュールを搭載 ○コンピュータ制御・超音波物性評価研究用システム ○低変換効率トランスジューサのドライバ/レシーバとして最適 →高減衰材料内部の超音波音速・減衰の精密計測 →ノンリニア音響現象の研究 →マルチチャンネル・ハイパワーRFバーストパルス発生源 →EMAT（電磁超音波探触子）など ○RAM-5000は、モジュラーシステム構成 →Mark1～Mark6シリーズ中より、必要なモジュール構成を選択可能 ○高電力パルス出力のゲーテッドアンプモジュールを複数選択 →マルチチャンネルドライブが可能 ○マニュアル制御・スタンドアローンのゲーテッドアンプシステム 　（RAM-Mark2相当：5kW出力）も供給可能 ○非線形音響現象（Non Linear Acoustics）研究専用として開発された 　SNAPシステムも提供しています。 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

• 試験機器・装置