蛍光X線膜厚測定器「XRF-2000series」は、 ●レーザーを用いた３次元オートコントロールステージが、 　正確な位置出しと高精度測定を実現 ●モジュール化された内部構造と高寿命Ｘ線チューブが 　ランニングコストを大幅に削減 ●独自開発されたソフトウェアが作業精度の向上と測定結果の 　迅速なレポート化に貢献（Microsoft Windows対応） ◆多様なモデルサイズ ※T、H、PCBの各タイプの提供だけでなく、生産現場における 　希望に合わせて、サイズ変更やオプションのご要望にも対応

WEEE/RoHS及びELV指令によって使用が規制されている特定有害元素をわずか100秒で同時測定する蛍光X線検査装置です。試料を置いて、パソコン上のボタンをクリックするだけの簡単操作で、指定有害元素5種類（カドミウム、鉛、水銀、臭素、クロム）を同時に検出し、測定時間も他社製品に比べて2〜10倍早い、100秒で完了します。研究所などでの幅広い分析に最適なED-50と、RoHS/ELV指定元素測定に最適なED-10を御用意しています。

■□■特徴■□■ ■高い測定精度と再現性 ・プログラムコントロールされた高性能X線管と高感度検出機が、 　測定膜厚のバラつきを大幅に減少 ・試料台の移動には高性能ステッピングモーターを使用し、 　高感度CCDカメラとの併用で正確な位置出しが可能 ・レーザーを併用したオートフォーカス機能を用いれば 　作業効率も大幅にUP ■徹底した利便性の追求 ・付属のパソコンと専用ソフトウェアは本体機器から完全に独立させている ・非常時のバックアップデータや整理の作業性にも配慮し、生産現場における 　利便性を徹底的に追求した測定機 ■適正な価格 ・一切の無駄を省いて内部構造をモジュール化したことにより、 　イニシャルコストの大幅な削減を実現 ・メンテナンス性にも優れ、部品交換は必要なものだけを 　スピーディーに行うことが可能 ■製品詳細、取付方法、技術情報が満載の総合カタログは カタログダウンロードもしくは資料請求よりお問い合わせ下さい。