光学機器

フォトテクニカ株式会社

設立1986年8月13日
資本金1950万
従業員数16名
住所埼玉県さいたま市南区南浦和1-2-17
電話048-871-0067
最終更新日：
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液晶チューナブルフィルター（分光・画像処理） 液晶チューナブルフィルター（分光・画像処理）
ウルトラファーストレーザ ウルトラファーストレーザ
光学(ナノ秒)レーザ 光学(ナノ秒)レーザ
オートコリレーター（レーザ計測装置Ⅰ) オートコリレーター（レーザ計測装置Ⅰ)
レーザパワーメータ(レーザ計測装置Ⅱ) レーザパワーメータ(レーザ計測装置Ⅱ)
近赤外ビューア(レーザ計測装置Ⅲ) 近赤外ビューア(レーザ計測装置Ⅲ)
電動可変光ディレイライン他　（レーザ制御装置Ⅰ) 電動可変光ディレイライン他　（レーザ制御装置Ⅰ)
レーザパワーコントローラー (レーザ制御装置Ⅱ) レーザパワーコントローラー (レーザ制御装置Ⅱ)
AO変調器/レーザシャター (レーザ制御装置Ⅲ) AO変調器/レーザシャター (レーザ制御装置Ⅲ)
半導体レーザ 半導体レーザ
液晶空間光変調器 液晶空間光変調器
フェムト秒パルスシェーパー フェムト秒パルスシェーパー
分光器・光源・積分球 分光器・光源・積分球
非球面レンズ・ グラディウムレンズ (光学部品・その他Ⅰ) 非球面レンズ・ グラディウムレンズ (光学部品・その他Ⅰ)
カスタム光学品 (光学部品・その他Ⅱ) カスタム光学品 (光学部品・その他Ⅱ)
O/E変換器・オプティカルチョッパー他 （光学部品・その他Ⅲ） O/E変換器・オプティカルチョッパー他 （光学部品・その他Ⅲ）
レーザ保護メガネ・遮光カーテン レーザ保護メガネ・遮光カーテン
膜厚モニタ（QCM電極） 膜厚モニタ（QCM電極）
光学干渉式膜厚モニタ 光学干渉式膜厚モニタ
薄膜密着強度測定装置 薄膜密着強度測定装置
CO2ジェットクリーナー CO2ジェットクリーナー
イメージ イメージ
光学レーザー 光学レーザー
薄膜製品 薄膜製品
光学干渉式膜厚モニタ

光学干渉式膜厚モニタ

光学干渉式膜厚モニタのご紹介です

光学干渉式リアルタイム膜厚モニター　AvaThinfilm

卓上で簡単に膜厚測定できる、光学干渉式リアルタイム膜厚モニター。10nm〜50μm膜厚測定可能。分光器なので他の各種計測も可能。

小型で使いやすい分光器を利用して、卓上で簡単に薄膜の膜厚測定が可能なシステム。 分光器はファイバーを替えればレーザの計測、その他いろいろに利用できるのも魅力。 測定サンプルより反射される白色光の干渉パターンを利用して計測し、ソフトにn値とk値がデーターベース化されているものから計測する 構成 ●分光器：　AvaSpec-ULS2048CL-EVO ●光源：　　AvaLight-DHc ●ソフトウエア：　AvaSoft-thinfilm ●ファイバー：　　FCR-7UV200-M ●アクセサリー：　Thinfilm Stage これらをＰＣから制御して1nm の分解能で10nm〜50μm までの膜厚を測定できます。

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