小型で使いやすい分光器を利用して、卓上で簡単に薄膜の膜厚測定が可能なシステム。 分光器はファイバーを替えればレーザの計測、その他いろいろに利用できるのも魅力。 測定サンプルより反射される白色光の干渉パターンを利用して計測し、ソフトにn値とk値がデーターベース化されているものから計測する 構成 ●分光器：　AvaSpec-ULS2048CL-EVO ●光源：　　AvaLight-DHc ●ソフトウエア：　AvaSoft-thinfilm ●ファイバー：　　FCR-7UV200-M ●アクセサリー：　Thinfilm Stage これらをＰＣから制御して1nm の分解能で10nm〜50μm までの膜厚を測定できます。

独自のスタッドを試料に接合させ、コンピュータ制御にで荷重をかけて引っ張り試験を行なう。破断が生じた時の荷重を表示し、スタッドの接着面積から換算した単位面積を表示可能。独自開発のエポキシ接着剤(接着力約700kg/cm2）付きのスタッドの使用が最適。 ●薄膜の密着度テスト ●接着剤等、粘着、溶着の強度テスト 1.材料の応力/ひずみ 2.硬質材料の曲げ強度 3.コ-ティング引き倒し強度 4.固定されたダイ等のせん断強度 5.フレキシブル基板の剥離強度 6.硬質基板の剥離強度

ピストル型のハンディな操作で、試料表面の汚れを除去できる非破壊タイプクリーナー。