【ドライブ仕様(一部)】 ■駆動方式：定電流(ACC)パルス駆動 ■駆動電流 ・Hight Range：10～1000mA、設定分解能1mA、VR設定10CH単位 ・Low Range：1～100mA、設定分解能0.1mA、VR設定10CH単位 ■電圧：0～5V ■駆動時間：0.1～9999.9hr ■駆動ON/OFF：全CH一括ON/OFF、停電時断、復帰操作は手動による ■モニター出力：電圧波形モニター0.1V/A、CH切換SW付 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置

【特長】 ●光-電気の高速計測システムの構築を容易にしました ●オプションの検査ステージは、デバイス形状にあわせカスタム設計対応 ●積分球内温調やハンドラー機能など様々なご要望に対応可能 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ● 駆動電源のON／OFF 及び駆動モード、Is、Vgs、Vds の設定と電流、 　電圧測定を行い、長期通電での経時変化をモニタします ●その他機能や詳細については、お問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●各種輝度計と自動ステージを組み合わせた、シンプルな自動計測システム ●その他機能や詳細については、お問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●ペルチェステージの採用により、高い安定性の冷熱プレート上で、 　DFB-LD,FP-LD,ポンプレーザー等のバタフライモジュールLDの電気、 　光学特性を自動計測 ●製品デバイスの出荷検査に最適 ●その他機能や詳細については、お問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●全方位・±88度の範囲にわたる輝度・色度を瞬時に温度環境下で 　測定する事が可能 ●液晶ディスプレイ特性評価装置として業界標準となっている仏エルディム社 　（国内総代理店　長瀬産業㈱様） EZContrastを搭載 ●その他機能や詳細については、お問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置

【特長】 ●高精度のACC/AVC（CW/Pulse)駆動 ●発光材料の研究開発の現場でなくてはならない業界標準モデル ●シンプルな機能に特化したコンポーネントの組み合わせにより、 　ユーザー様の必要条件に併せシステムアップ可能なシステム構成 ●有機ＥＬデバイスの評価プロセスに柔軟に対応 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●100～200個程度のTEGを任意の駆動方式で点灯させ、任意のサイクルで 　輝度、色度、スペクトルを自動計測 ●デバイスを取り付けるヒートプレート部、パルスドライバー、輝度色度計の 　駆動ステージから構成 ●ステージ及び計測はパソコンよりGP-IBを通じて行います ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●サンプルデバイスを恒温プレート付真空チャンバーにセットすることにより、 　安定した状態でデバイスの特性評価を行います ●パラメーター設定により電流（電圧）、印加ステップ、サンプリング時間 　 間隔等を任意に指定して自動測定を行うことが可能 ●電圧－電流密度　電流密度－輝度特性　電流密度－発光効率特性 　電流密度－エネルギー変換効率特性　電流密度－量子収率特性　 　 分光スペクトル特性　色度座標を測定してグラフ表示 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●ステージはX軸Y軸θ軸Z軸の4軸で構成しており、ステッピング 　モーターにより精密な位置決めを実現 ●CCDカメラの搭載によりモニター上での快適な位置決めを可能 ●ステージ上のバキューム吸着テーブルとなっておりますので 　容易な実装が可能 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●ハイパワーのLD モジュール（アレー状レーザー）の諸特性を評価 ●積分球とカロリーメーターを採用し、全光量のパワーを自動計測 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●CW では得ることのできないパルス変調でのI-L のキンク特性を 　30nSの短パルス幅の領域まで測定可能としました ●得られたデータはWINDOWS 上で表示され、データ処理されます ●ビームプロファイラ、偏光特性及びFFP などの測定が計測ステージの 　 カスタマイズにより可能な仕様です ● 高拡張性（測定ヘッドの増設が可能） ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●CW駆動では得ることのできないパルス変調でのI-Lのキンク特性を 　短パルス幅の領域まで測定可能 ●得られたデータはWINDOWS上で表示され、データを処理します ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●LD駆動の最適化 ●ペルチェ温度調整 ●多様な駆動方式に対応 ●ワイドレンジに柔軟対応 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

【特長】 ●独立した任意の温度設定が可能な2つの温度調整ステージと、 　ステージ間を自在に移動する計測ヘッド部を持った計測部構造を 　採用することで、従来温調ステップ間の温度待ち時間を利用した 　効率的な計測プロセスを実現 ●当社従来機対比で2倍近いのスループットを実現します ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。

• その他計測・記録・測定器

本装置は、レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定するものです。 CWでは得る事のできないパルス変調でのI-Lのキンク特性を短パルス幅の領域まで測定可能としました。得られたデータは、Windows上で表示されデータ処理されます。 LDヘッドには5.6Φ用及び3.3Φ用LDソケット4chが装備されていますので、測定するLDタイプ（5.6Φ又は3.3Φ）の素子に適合するソケットにLD素子を装着します。ソフトウエアの測定条件により、LDドライブ，PD受光信号をRF SWの操作で自動選択し、計測します。

• 画像処理機器

本装置は、ペルチェ式温度制御装置であり、ペルチェ素子を実装した治具と組み合わせ、プレート面を任意の温度に制御精度0.1℃にて制御し、温度試験等を行う装置です。 また、GP-IBの通信機能を有し、パソコンによる自動制御ができます。

• 温湿度制御