システム技研の製品・サービス一覧

当カタログは、当社の治具設計技術、ソフトウエアなどを掲載している Product Catalogです。 各デバイスを個別に高精度温調できる「EAS-10シリーズ デバイス別温調タイプ」や、 拡張性と省スペースが特長の「EAS-62シリーズ 温調無しカセットタイプ」をご紹介。 また、有機EL寿命評価装置や、EMC対策技術についても掲載しております。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■ワンストップサービス ■主な活動領域 ■ソフトウエア ■治具設計技術 ■環境温度の影響無く高精度に計測 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器
• 治具
• 有機EL

『PAS-100』は、デバイス毎にペルチェ素子式温調機構を採用し、 個別温調が可能なペロブスカイト太陽電池耐久性評価装置です。 Voc,Isc,IV曲線,Jsc,Pmax,FF.Rs,Rshを計測および算出し グラフ化やCSVファイルを出力。 ペロブスカイト太陽電池の特性評価や耐久性評価を多チャンネルで行え 材料研究開発を加速させます。 【特長】 ■LED光源で1SUN相当の長時間連続評価が可能 ■デバイス毎の個別温調と温度ステップ機能 ■高い拡張性と引き出し式で省スペース ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器
• 電池・バッテリー

当社でご提供する「EMC 対策技術」をご紹介いたします。 電磁シールドボックスと低ノイズトランスを利用して、計測部及び 計測ケーブルなど様々な個所をシールドし、大幅にノイズを低減。 電子機器が適切にEMC対策を施さずに製品化された場合、他の電子機器や 通信機器に対して電磁ノイズの影響を与え、誤動作や機能障害を引き起こす 可能性があります。特に最近では電子機器の高速化やデジタル化が進み、 電磁ノイズ問題がクローズアップされています。 【実績】 ■電磁シールドボックスと低ノイズトランスを利用して、計測部及び 　計測ケーブルなど様々な個所をシールドし、大幅にノイズを低減 ■「装置を日本で使用していたが韓国に移設をしたい」とのご要望で 　KC認証に適合する対策を行い、認証を取得 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• EMC対策製品

『EAS-26シリーズ』は、有機EL素子の寿命や特性を多チャンネル(150TEG、 600ドライブor100TEG、600ドライブ )で行える有機EL寿命評価装置です。 トップエミッション、ボトムエミッションの対応や標準的な寸法の TEGだけでなく様々な仕様のTEGに対応したアタッチメントを 設計することで標準的な測定が行えます。 また、撮像カメラなどによって得られた画像からダークスポット計測など、 ご要望に応じたソフトウエアを提供します。 【特長】 ■UV照射 ■多様なTEGに対応 ■画像解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器
• 有機EL

当社では、環境温度の影響無く高精度に計測できる「治具断熱技術、 高精度計測回路」をご提供しております。 用途に合わせた駆動計測回路を自社開発。測定対象物に対し1：1で 最適化された駆動計測回路を搭載することで省配線、耐ノイズ性、 低コストを実現。 個別配線タイプ、省配線タイプ、ケーブルフリー接続、 モジュールの高密度実装がございます。 【特長】 ■高精度 ■治具断熱技術で環境温度の影響受けない ■測定対象物に対し1：1で最適化された駆動計測回路を 　搭載することで省配線、耐ノイズ性、低コストを実現 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 治具
• その他計測・記録・測定器

当社の「治具設計技術」についてご紹介いたします。 トップエミッション、ボトムエミッションの対応や標準的な寸法の TEGだけでなく様々な仕様のTEGに対応したアタッチメントを 設計することで標準的な測定が行えます。 これまで培ってきた治具設計技術で、多チャンネルの温度制御を環境温度や 隣接の治具の影響を受けない治具構造を省スペースで実現しています。 【特長】 ■脱着のし易さ、再現性 ■温度制御 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 治具

当社でご提供する「ソフトウエア」は、中断操作または停電のUPS動作により 安全に測定を停止しそれまでの測定データを保存、再開操作により測定データが 途切れることなく蓄積されます。 測定結果ファイル(CSV形式)は測定中にExcel等のアプリケーションから 参照される場合があるため、オリジナルと参照用に2種類のファイルを作成。 ご要望に応じ機能の追加やUI変更など「カスタム設計」対応いたします。 【特長】 ■測定の中断・再開機能 ■オートアライメント機能 ■測定レシピ ■測定結果ファイルの2重化 ■ソフトウエアのカスタマイズ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）

『EAS-62シリーズ 温調無しカセットタイプ』は、温調機能を省くことで 大幅な省スペース化を実現します。 少ない床面積で多量のデバイスの評価を安価に行えます。 また、最大384デバイスをPCから個別に条件設定し駆動計測、モニタリング、 グラフ化、データ保存などを行うことができ、大量のデバイスの特性評価や エージングを行えます。 【特長】 ■省スペース ■大量デバイス駆動計測 ■拡張性と省スペース ■大量デバイス駆動計測 ■低コスト ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

当社では『EAS-61シリーズ 恒温槽タイプ』を取り扱っております。 恒温槽による一括温調で、高温領域や多湿条件でのエージングが可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■恒温槽による一括温調 ■高温領域や多湿条件でのエージングが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

当社では『EAS-10シリーズ デバイス別温調タイプ』を取り扱っております。 引き出し式かつデバイスのセッティングも簡易に行える作業性の高い設計。 各デバイスを個別に高精度温調がございます。－10℃から＋120℃です。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■各デバイスを個別に高精度温調：－10℃から＋120℃ ※仕様による ■引き出し式 ■拡張性 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

『高輝度LEDパルスエージング装置』は、スレイブユニットの 増設によりCH拡張が容易なエージング電源ユニットです。 駆動電流1～1000mAまでのダイナミックレンジを実現。 フルスケールを2段階に任意設定可能。 また、時間、電流値、パルス幅、周期等の駆動条件を 手動で簡単に設定が可能です。 【特長】 ■デバイス実装トレーが一体型で省スペース ■IF_SH回路の採用により、高精度な定電流パルス駆動を実現 ■着脱容易なデバイストレーの変更により様々な形状のデバイスに対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置

LEDの電気的・光学特性を測定し、任意のパラメーターで選別あるいは合否判定をする目的のテスター

• その他計測・記録・測定器

TFT 素子電流、電圧特性を測定する装置です

• その他計測・記録・測定器

光通信業界において発光レーザー素子及び受光素子の評価用電源や、試験検査装置の開発・設計を得意技術として確立してきております

• その他計測・記録・測定器

バタフライモジュールLDの電気、光学特性を自動計測

• その他計測・記録・測定器

フーリエ変換光学系、カラーフィルタと冷却CCDを組み合わせた視野角測定装 置

• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置

標準ユニットの組合せにより、4CH単位で増設可能なエージングシステム

• その他計測・記録・測定器

有機EL素子の耐久寿命の自動計測を目的とした装置です

• その他計測・記録・測定器

有機ELデバイスの電気発光特性(IVL特性）を自動計測する装置です

• その他計測・記録・測定器

面発光レーザーVCSEL-LDのウェハ～チップをヒーターステージ上でプローブコンタクトし、I-L特性を計測する半自動装置

• その他計測・記録・測定器

寿命評価装置はハイパワーの長期通電を行い、耐久寿命を評価する装置です

• その他計測・記録・測定器

レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L 及びI-Vf 特性を測定する装置です

• その他計測・記録・測定器

LDをCW～Pulse駆動し、I-L及びI-Vf特性を計測する装置です

• その他計測・記録・測定器

ペルチェステージの採用により、高い安定性の冷熱プレート上で、DFB-LD,FP-LD,ポンプレーザー等のバタフライモジュールLDの電気、光学特性を自動計測致します

• その他計測・記録・測定器

-40～90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います

• その他計測・記録・測定器

本装置は、レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L及びI-Vf 特性を測定するものです。 CWでは得る事のできないパルス変調でのI-Lのキンク特性を短パルス幅の領域まで測定可能としました。得られたデータは、Windows上で表示されデータ処理されます。 LDヘッドには5.6Φ用及び3.3Φ用LDソケット4chが装備されていますので、測定するLDタイプ（5.6Φ又は3.3Φ）の素子に適合するソケットにLD素子を装着します。ソフトウエアの測定条件により、LDドライブ，PD受光信号をRF SWの操作で自動選択し、計測します。

• 画像処理機器

本装置は、ペルチェ式温度制御装置であり、ペルチェ素子を実装した治具と組み合わせ、プレート面を任意の温度に制御精度0.1℃にて制御し、温度試験等を行う装置です。 また、GP-IBの通信機能を有し、パソコンによる自動制御ができます。

• 温湿度制御