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2025/05/13

粒子径・ゼータ電位測定の基礎セミナー

株式会社アントンパール・ジャパン 株式会社アントンパール・ジャパン
本セミナーは、粒子径分布測定およびゼータ電位測定に関する基礎的な知識と測定事例を解説します。 粒子径の評価は食品から半導体まで様々な業界でおこなわれています。例えば、同じ小麦からできている薄力粉と強力粉のように、粒子径の大きさがそのまま最終製品の特性に影響することがあります。 そのため、生産プロセスでの粒子径の管理の重要性はますます大きくなっています。特に日本は粒子が微粒子化しています。微粒子は分散液の状態で用いることが多いので、そのときの分散状態の評価にゼータ電位が評価指標の一つとしてもちいられています。 また、粒子を評価する方法も様々存在しており、測定法による違い、測定の注意点について丁寧に解説します。更に、現在お困りのトラブル内容や評価方法に関する相談会を開催します。 ※定員に達しましたら受付を締め切りますのでお早めにお申込ください ※同業他社さまにはご参加をご遠慮する場合がございます。
粒子径・ゼータ電位測定の基礎セミナー
粒子径・ゼータ電位測定の基礎セミナー
開催日時 2025年06月13日(金)
13:30 ~ 16:00
会場 リバーサイド隅田16階会議室 / 1階ショールーム(実機見学・相談会)
参加費 無料 定員:15名
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粒子径分析装置 Litesizer DIF 500<新製品>

優れたデータで時代を牽引!厳しい環境中でも完璧な光軸調整が可能

『Litesizer DIF 500』は、10nm~3.5mmまでの高性能な粒子径測定を 実現するレーザ回折・散乱式粒子分析装置です。 ソフトウェア「Kalliope」は初見でも問題なく使用でき、わずか3回の クリックで測定を開始できます。 また、光学ベンチは頑丈な金属製の筐体で保護され、環境中のダストや 振動の影響を受けにくい設計になっています。 【特長】 ■使いやすいハードウェア設計 ■優れた耐久性 ■最高クラスの安全性 ■最大レベルの検出角範囲 ■堅牢な保護構造 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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粒子分析装置『Litesizer DLSシリーズ』

様々なサンプルの粒子径と透過率を測定!製品ラインアップは3種類をご用意

『Litesizer DLSシリーズ』は、直観的で使いやすい粒子分析装置です。 光散乱技術を用いて粒子径、粒子濃度、ゼータ電位、分子量、透過率、 屈折率をシンプルかつ工夫に富んだソフトウェアで測定。 また、サンプルの透過率を常時計測することにより、焦点位置、測定角度、 測定時間などのパラメータを自動調整することも可能です。 【特長】 ■透過率を常時計測 ■1台の測定装置で 3つの測定角度 ■非常に高い粒子径分解能を実現 ■高感度の測定用光学部品を使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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固体表面分析用ゼータ電位測定装置 SurPASS 3

表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します!

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、固体サンプル表面のゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性 (pH滴定) 及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS3では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動

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固体表面ゼータ電位測定装置SurPASS 3 半導体ウェハ用

表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します!

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、半導体ウェハのゼータ電位を評価します。 クランプセルは、SurPASS 3を用いて半導体ウェハ等の平面形状サンプルを測定するためのツールです。独自のメカニズムで設定した接触圧力によってサンプルを装着し、再現性の高い測定を実現します。 高い柔軟性 ・電解液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS3では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動

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固体表面ゼータ電位測定装置 SurPASS 3 ポリマーフィルム

表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します!

流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、ポリマーフィルムのゼータ電位を評価します。 可変ギャップセルにより、長方形または円板状の小型サンプルまでアプリケーションの幅が広がります。 SurPASS3では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動

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粒子分析装置『Litesizer DLSシリーズ』

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レーザ回折・散乱式粒子径分析装置 Litesizer DIF 500

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アントンパール・ジャパン
試験・分析・測定
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株式会社アントンパール・ジャパン
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今週5月15日から開催!「MEX金沢2025」に出展します! #5月開催展示会

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次世代型ハイパワー・ハイブリッドクーラントシステム smartec社Aeroforceのデモ実演を見どころにした展示を予定しております! その他にも、Nine9社のTDチャンファーミルや大好評のFXコーティングを施した7leaders社の最新エンドミルなど… 生産現場の加工を効率化する革新的な切削工具をご用意し、皆さまのご来場を心よりお待ちしております! 詳細はこちら https://toolde.co.jp/?p=5317

2025年05月13日

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DDS学会学術集会に出展します

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アンチェインドラブズ(株)は6月17日(火)から開催される 第41回日本DDS学会学術集会に出展します。 展示ブースでは、脂質ナノ粒子(LNP)の製造から特性評価までできる製品群や、ADC、そして細胞外小胞の評価ができる製品まで、幅広く揃ったラインナップをご覧になれます。 また、会期1日目の17日には展示企業プレゼンも行います。社員一同、ご来場を心よりお待ちしています。 名称:第41回日本DDS学会学術集会 日程:7月17日(火)〜 7月18日(水) 会場:幕張メッセ国際会議場 詳細:https://procomu.jp/dds2025/ <出展企業プレゼン> 7月17日(火) 15:28 ごろ

2025年05月13日

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第25回蛋白質科学会年会 に出展します

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弊社は、2025年6月18日(水)ー20日(金)に開催される 第25回蛋白質科学会年会に出展いたします。 ブースでは自動化も可能な安定性評価装置 Auntyをはじめ、タンパク質や抗体医薬の研究開発に画期的なソリューションのご紹介をします。 ぜひブースにお越しください。 会期:2025年6月18日(水)ー20日(金) 会場:アクリエひめじ 詳細:https://aeplan.jp/pssj2025/

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タック株式会社殿主催による「対策展」に出展します(対象商品:暑熱対策 / 省エネ機器 / 安全対策)

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タック株式会社主催による「対策展」に出展いたします。 「暑熱対策」「省エネ機器」「安全対策」等に焦点を当てた対策展となります。 弊社は省エネ機器としてエアーノズル(レヒラー社製マルチチャンネルジェット)をメインに出展予定です。 是非皆様のご来場をお待ちしております。

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粒子径・ゼータ電位測定の基礎セミナー

粒子径・ゼータ電位測定の基礎セミナー

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本セミナーは、粒子径分布測定およびゼータ電位測定に関する基礎的な知識と測定事例を解説します。 粒子径の評価は食品から半導体まで様々な業界でおこなわれています。例えば、同じ小麦からできている薄力粉と強力粉のように、粒子径の大きさがそのまま最終製品の特性に影響することがあります。 そのため、生産プロセスでの粒子径の管理の重要性はますます大きくなっています。特に日本は粒子が微粒子化しています。微粒子は分散液の状態で用いることが多いので、そのときの分散状態の評価にゼータ電位が評価指標の一つとしてもちいられています。 また、粒子を評価する方法も様々存在しており、測定法による違い、測定の注意点について丁寧に解説します。更に、現在お困りのトラブル内容や評価方法に関する相談会を開催します。 ※定員に達しましたら受付を締め切りますのでお早めにお申込ください ※同業他社さまにはご参加をご遠慮する場合がございます。

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