過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。
基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』は、過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。 モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。 その光の位相のズレから部品の高さが計測できます（反射型位相シフトモアレ法）。 この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。 その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、欠品等の検査を実施します。 従来の2Dの検査より不良検出が大幅に向上し、その為、2D検査の課題であった過剰検出の低減が図れます。 【特徴】 ○OMNI-VISION(R) 2D/3D Inspection Technology ○モアレ縞乱反射の影響回避 ○8段カラー照明 ○10Mega Pixel Side-Viewer(R) System 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【特徴】 ○3D OMNI-VISION(R)：2D/3D同時検査 ○15MegaPixelカメラ搭載 ○10MegaPixel Sideカメラの搭載 ○コンパクト設計：装置幅900mm ○8段カラー照明：完全同軸落射照明 ○テレセントリックレンズの採用 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
価格情報
お問い合わせください
納期
※お問い合わせください
用途／実績例
●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
カタログ（2）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
日本ミルテック株式会社は、韓国MIRTEC社の日本法人として、2013年8月に設立した会社です。 韓国MIRTEC社は、SMT実装業界及び半導体業界向け外観検査装置の専業メーカーです。 昨今のスマートフォンに代表されるモバイル機器も益々小型化、高機能化が進んでいます。 その様な製品に必要不可欠なプリント基板電子部品実装分野の外観検査装置も、 今までの2D画像検査装置から3D画像検査装置の必要性が益々増加しています。 韓国MIRTEC社は、2000年に設立し、同分野の草分け的な存在として急成長を遂げ、 全世界の数多くのお客様にご愛顧戴いております。 また、グローバル企業を目指し、米国・中国・英国等全世界に16の法人・サービス拠点を有しています。 今まで、培ってきた先進的な技術をもとに、この度日本市場の開拓と全世界に広がる日系企業への検査ソリューションの提案と各種装置のメンテナンスを目的として日本ミルテックは設立されました。 製品品質、顧客満足度No.1を目指し、社員一同邁進して行きます。