極微小部を最高の精度で測定!大きなサイズの基盤も測定できる膜厚計
蛍光X線式膜厚計 「EX-731」は、ニューメリックフィルタの他に、メカニカルフィルタ(ダブルフィルタ)の採用で、常に最高の精度が得られるように最適の条件で測定できます。 測定位置にマウスを合わせることにより敏速な位置合わせを実現。また、測定位置を登録しておけば、連続自動測定も可能。座標補正、チャンネルリンクにより各種パターンに対応。標準板較正も自動測定が可能です。 【特徴】 ○ダブルフィルタ採用で最高の精度、最適の条件で測定可能 ○測定位置にマウスを合わせることにより敏速な位置合わせを実現 ○マルチタスク機能で測定中でもレポート作成を含む他の処理が可能 ○コリメータの最小が0.05φmmで極微小部の測定が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【仕様】 [手動ステージ / 自動ステージ] ○測定ヘッド部 →サイズ(mm) 170 × 110 / 300 × 280 →移動量 X(mm) 70 / 80 Y(mm) 70 / 60 Z(mm) 80(測定物の高さ最大150) / 50 →測定物高さ(最大) 80(オプション150) / 50 →寸法(mm) 600(W)×465(D)×730(H) →重量(kg) 79 / 85 →サンプル荷重(kg) 3 / 2 ○コンピュータ →寸法(mm) 本体182(W)×383(D)×372(H) モニタ412(W)×415(D)×432(H) →重量(kg) 本体 6.8 / モニタ 2.8 ○プリンタ →重量(kg) 3.4 ○電源 AC100V±10V ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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貴社のめっき、塗装等の品質管理用膜厚測定には是非(株) 電 測の膜厚計をご使用下さい。 1952年の創業以来、経済産業省工業品検査所、各県の工業試験場、各種検査協会、各企業の研究所及びめっき業界で (株) 電 測の膜厚計を使って頂いております。通産省のJIS規格設定において、標準測定器として採用され、表面処理及び品質管理の向上、発展に寄与して参りました。 膜厚測定の歴史は電測の歴史といっても過言ではありません。業界に先駆けて電解式膜厚計を開発したことにより、日本の表面処理業界に貢献してまいりました。 これからも業界を牽引しお客様の製品品質向上と発展を支えていきます。