1本のランプで全ての元素の測定が可能！近接線の影響も視覚的に確認できる革新的な原子吸光分析装置
アナリティクイエナが世界で初めて開発したキセノン連続光源バックグラウンド補正法により、従来の原子吸光分析装置の概念を覆す新しい原子吸光分析装置です。 1本の光源で原子吸光分析に使用する全ての波長範囲をカバーし、フレーム測定ではシーケンシャル測定により測定時間の短縮も可能です。 高分解能光学系により、近接線を視覚的に確認し分離することが可能です。近接線の影響を受けない高精度なバックグラウンド補正機能により、測定結果の精確性が著しく向上しました。 【特徴】 ■高分解能エシェル分光器搭載 (0.002nm/200nm) ■キセノン連続光源/CCD検出で多元素シーケンシャル迅速測定 ■同一元素多波長測定とダイナミックモードによる測定濃度直線領域を拡大 ■原子吸収線のみならず分子吸収線活用で新たな分析能力が拡充 ■2次元、3次元データ表示による詳細なデータ解析 ■固体試料の直接分析が可能 (オプション：固体サンプラー) ■オートサンプラーで高いデータの信頼性と効率化に優れた自動化 ■アナリティクイエナは世界で唯一光学系に10年保証をします。
この製品へのお問い合わせ
関連動画
基本情報
■ランプ：キセノンランプ ■波長範囲：185~900 nm ■バックグラウンド補正：キセノン連続光源補正 ■検出器：半導体検出器（CCD）
価格情報
****** お気軽にお問い合わせください。
納期
用途／実績例
詳細は、お問い合わせ下さい。
ラインアップ（3）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| contrAA 800 F | フレーム専用機。水素化物発生法にも対応します。 |
| contrAA 800 G | ファーネス専用機。固体サンプラーを接続して固体サンプルを直接測定することも可能です。 |
| contrAA 800 D | フレーム・ファーネス両用機。フレームとファーネスは自動切り替えで省スペース設計。オプションの追加で水素化物発生法、固体サンプルの直接ファーネス測定も可能です。 |
カタログ（9）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
Analytik Jena GmbH+Co.KG の前身は、1846年カール ツァイス氏によってドイツ イエナ市に創設されたカール ツァイス イエナ社で、Dr.エルンスト アッベが世界最初の分光計を発明し、製造販売を開始したのが化学分析機器事業の始まりです。 1995年、同社の分析機器部門が分離され、Analytik Jena として独立。 その後、数々の革新的技術開発により急速に発展し、世界市場において科学分析機器メーカーとしてグローバルなビジネスを展開しています。