第3世代のゼーマン補正により、幅広い濃度のサンプル測定が可能に！
最適な補正を行えるように磁場強度は最大1.0テスラまで可変設定できます。また、従来のゼーマン補正（2フィールドモード; オン、オフ）だけでなく、3フィールドモード（オフ、中、高磁場）が可能になり、測定濃度範囲をmg/Lオーダーまで拡大し、アプリケーション領域が飛躍的に拡充されました。 【特長】 ■8ランプチェンジャーで試料処理能力が向上 ■シングルおよびダブルビームの切り換えが可能 ■D2バックグラウンド補正、第三世代のゼーマンバックグラウンド補正 ■コード化ランプのためのRFIDツール搭載 ■液体試料だけでなく、固体試料の直接測定が可能 ■独自の交差加熱型グラファイトファーネスが理想的な原子化を実現 ■最適な原子化と灰化温度、2フィールド/3フィールドバックグラウンド補正が理想的な測定を実現 ■検量線の直線性領域を拡張する独自の可変磁場3フィールドモード ■グラファイトチューブ内の試料の注入・乾燥を観察できる内蔵カメラ ■最適なフレーム測定を約束するバーナー高さ自動調整機能
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基本情報
■ランプ：ホロカソードランプ8本 ■測光方式：ダブルビーム光学系 ■波長範囲：185~900 nm ■バックグラウンド補正：磁場強度可変交流ゼーマン補正またはD2補正
価格情報
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納期
用途／実績例
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ラインアップ（2）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| ZEEnit 700 P | フレーム・ファーネス両用機 アクセサリーの追加で以下の分析も可能です。水素化物発生装置を使用した水素化物分析。固体サンプラーによる固体ファーネス分析 |
| ZEEnit 600 P | ファーネス分析専用器 アクセサリーの追加で以下の分析も可能です。水素化物発生装置による水素化物分析。固体サンプラーによるファーネス固体分析。 |
カタログ（6）
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企業情報
Analytik Jena GmbH+Co.KG の前身は、1846年カール ツァイス氏によってドイツ イエナ市に創設されたカール ツァイス イエナ社で、Dr.エルンスト アッベが世界最初の分光計を発明し、製造販売を開始したのが化学分析機器事業の始まりです。 1995年、同社の分析機器部門が分離され、Analytik Jena として独立。 その後、数々の革新的技術開発により急速に発展し、世界市場において科学分析機器メーカーとしてグローバルなビジネスを展開しています。