カスタマイズ対応可能！高分解能検査ができるオフライン検査装置をラインアップ
『MICRO ACEシリーズ』は、アヤハエンジニアリングが取扱う オフライン検査装置です。 分解能0.7μ～超高分解能検査が可能な「OMI-UL」は、3D計測器と連携でき、 検査MAPからボタン1つで欠陥の深さを測定することが可能です。 他にも、コンパクトタイプの「OMI-SP」や、10～100μで簡易検査が可能な 「OMI-FE」などをラインアップしています。 【特長】 ＜OMI-UL＞ ■分解能0.7μ～超高分解能検査が可能 ■焦点深度が広く欠点の全形撮像が可能、ピントによるバラツキなし ■豊富な光学系の組み合わせと、画像処理による欠点種弁別が可能 ■レーザー顕微鏡（オプション）の3D計測による欠点解析が可能 ■ディスプレイ、電子材料、電池向けなど先端素材の研究開発シーンでも活躍 ※詳しくはお問い合わせ下さい。
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基本情報
【その他の特長】 ＜OMI-SP＞ ■分解能2.8μ～10μでの検査に適す ■人による顕微鏡検査の自動化、定量化に好適 ■フィルムやガラスのμmレベルの凹凸欠点、偏光輝点、キズの検出が可能 ＜OMI-FE＞ ■分解能10uからの簡易検査が可能 ■A4サイズを約10秒で測定 ■検査結果マップを等倍で印刷し、マップと欠陥サンプルを直接比較可能 ※詳しくはお問い合わせ下さい。
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【用途】 ■製品開発時 ■工程改善時 ■最終工程時 などに ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
激化する市場競争を勝ち残っていくために、「品質管理」や「品質向上」への取り組みは、すべての製造産業にとっての共通課題であると言えます。 私たちアヤハエンジニアリングは、表面欠陥検査装置の開発に3０年以上の実績とノウハウを持ちます。「先進技術の本質を極め、お客様のニーズに応えた製品サービスの創造・提案を通じて、製造産業の発展と技術革新をサポートする」が、私どもの事業理念です。
