小型半導体 電気測定検査 マーキング 外観検査 テーピングする装置。 高速処理 複合設備
『TM288P』は トレイ供給、測定、マーキング、外観検査、テーピングを すべて一体化可能なインラインシステムです。 トレイに収納されている半導体素子を、接続テスターにより常温測定後、外観検査を行います。 接続テスターからの測定結果によりマーキングし、測定結果および、 外観検査の結果に基づき、パッケージをテーピングに収納します。 【特長】 ■高速動作、0.4sec/1個～0.6sec/1個 高スループットを実現 ■測定か所 5測定部 ■外観検査による リード モールド部の検査が可能 ■レーザーマーカーによるマーキングが可能 ■タッチパネルスイッチによる多機能設定の簡略化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【オプション】 ■テーピング上での外観検査機構 ■パッケージタイプ変更チェンジキット ■バーコードによる品種データ入力 ■各部のESD対策としてのイオナイザー設置 ■外部コンピュータとのデータインターフェース ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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半導体検査装置 特にパワー半導体の設備の設計製作、及び販売を行っております。 検査装置のみならず 製造装置の製作も お客様のご要望に合わせて、設備を設計製作いたします。 半導体関係以外の設備も対応いたします。 ご要望の際はお気軽に、お問い合わせください。