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デュアルサイドフライングプローブテスタ:APT-1600FD

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最終更新日:2025年04月04日

タカヤ株式会社
タカヤ株式会社
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上下面にプローブヘッドを配し、基板の裏表同時インサーキットテストを可能にしたフラッグシップモデルです。

基板の上面に4本、下面に2本のプローブを配置。 それぞれが自在に高速移動し、 世界最高水準の驚異的な検査スピードを実現するフラッグシップモデルです。 上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で 基板の上面・下面の両ポイントへの同時コンタクト検査を可能としました。 検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。 豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。 ★岡山本社のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★ 検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。 ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。

    基板検査装置
APT-1600F正面ver2のコピー.png

デュアルサイドフライングプローブテスタ:APT-1600FD

APT-1600F正面ver2のコピー.png
APT-1600F正面ver2のコピー.png
  • タカヤ株式会社 産業機器事業部 サイト
  • 特設サイト - 製品・サービス詳細 - https://pr.mono.ipros.com/takaya/product/

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基本情報

電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板(基板)に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを インサーキットテスト(ICT)、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品(抵抗器・コンデンサ等)の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA(Manufacturing Defect Analyzer:製造不良解析装置)とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

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用途/実績例

【採用業界】  EMS,EMDS企業  半導体製造装置関係  通信インフラ・サーバー  車載・航空機・船舶  医療機器  産業機械、ロボット  FA工作機械  発電、電力システム 【活用事例】 ■量産品の検査   ローダー/アンローダーと接続し、大ロットでも自動化/無人検査 ■多品種少量基板の検査   専用治具製作コスト不要 不良個所の特定が容易 ■試作基板の検査   設計変更に即応したファンクションテスト(基板に電圧を印加し、回路動作(ON/OFF)の確認や直流電流の測定) ■機種切り替え時の実装確認検査   ファーストロットのマウントプログラムの確認や、機種切り替え時セット間違いの確認 ■不良解析検査   機能検査で不良になった基板の検査や、市場で故障した基板の不良解析 他にも、様々な用途で活用いただいている実績がございます。 詳しくは営業担当までお問い合わせください。

詳細情報

  • products_img02.png

    APT-1600FD

ラインアップ(4)

型番 概要
APT-1600FD 両面検査対応機
APT-1600FD-A 両面検査対応、インライン機(自動搬送コンベア付きモデル)
APT-1600FD-SL 両面検査、大型基板対応機
APT-1600FD-SL-A 両面検査、大型基板対応、インライン機

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デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-1600FD

デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-1600FD

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Dual-side Flying Probe Tester APT-1600FD Series

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ODB++フォーマットの活用

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インサーキットテストとバウンダリスキャンテストの連携

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フライングプローブテスタのご紹介

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深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化 【愛媛大学 共同研究資料】

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productronic紙 インタビュー記事

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欧州電子業界雑誌「EPP」 タカヤフライングプローブテスタ特集記事

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産業機器事業部 製品紹介

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BGA実装基板検査の最新動向 JTAGバウンダリスキャンテストとフライングプローブテスタのハイブリッド検査

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JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向

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第20回「JPCA賞(アワード)」受賞のお知らせ

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深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化【愛媛大学様共同研究資料】

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特集記事:BGA実装基板検査の最新動向 フライングプローブテスタとJTAGテストのハイブリッド検査

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インサーキットテスタの基礎知識

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JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム

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この製品に関するニュース(30)

フライングプローブテスタのグローバルサイトをリニューアルしました。

  • その他・お知らせ

下記、関連リンクより TAKAYA Flying Probe Tester ページをご覧ください。 タカヤ株式会社は 伊藤忠商事株式会社様と海外販売に関する代理店契約を結んでおり、アメリカ・ヨーロッパ・中国・東南アジア各地に フライングプローブテスタの販売/サービス拠点を設置、46か国以上の国々にて 多数の販売実績がございます。 今後も、世界各国の代理店情報・海外での展示会出展情報などを 定期的に発信いたします。海外拠点へのフライングプローブテスタ導入/現地立ち上げもお任せください。

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第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 優秀賞を受賞しました。

  • 企業ニュース

2024年3月13日(水)~15日(金)東京理科大学開催「第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会」にて、タカヤ株式会社が行った講演発表「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」が、同大会の優秀賞を受賞しました。 2024年9月12日、愛知県 大同大学開催「MES2024シンポジウム」にて授賞式が行われ、記念の盾を贈呈いただきました。

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「基板の窓口」様の取材を受けました。

  • 企業ニュース

2024/7/12~14の3日間、東京ビッグサイトで開催されました 「電子機器トータルソリューション展2024(JPCA show 2024)」に タカヤ株式会社 産業機器事業部が出展しました。 会期中、実装基板情報サイト「基板の窓口」より取材頂き、 その様子が、基板の窓口Youtubeチャンネルで公開されております。 ぜひご覧ください。

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MES2024 第34回マイクロエレクトロニクスシンポジウム 企業展示ブース出展のご案内

  • セミナー・イベント

タカヤ株式会社は、2024年9 月11日(水)~13 日(金)の3日間、名古屋市南区の大同大学滝春キャンパスにて開催されます『MES024 第34回マイクロエレクトロニクスシンポジウム』に企業展示ブースを出展します。 同シンポジウムにご来場の際は 是非、タカヤのブースまでお越しください。 運営事務局 (一社)エレクトロニクス実装学会 〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL: 03-5310-2010 詳細および最新情報は、関連資料のフライヤー、MES2024 ホームページをご覧ください。

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1894年創業の織物業、高屋織物から発展し、1966年に電子機器部が創設されトランジスタ・ラジオの組立を開始。 現在は、電子機器関連の受託生産事業(EMS)の他、インサーキットテスタ(プリント基板検査装置)、 RFID(IC情報のタグから近距離の無線通信によって情報交換を可能にする技術)関連機器などの製造・販売、 ITコンサルティング・システムソリューションなど、各種エレクトロニクス事業を国内外で積極的に展開しています。 繊維と電子を両輪とし、社会の発展に貢献する企業グループとして進化を続けてまいります。

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