半導体レーザの縦モード分析に最適 各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長： 330 .. 3000 nm
・半導体レーザの縦モード分析に最適 ・各種ミラーセットとディテクターの選択可能波長： 330 .. 3000 nm ・FSR:1 GHz ・フィネス > 200 (典型値 > 400)
この製品へのお問い合わせ
基本情報
FPI 100はコンフォーカル・ファブリペロー型干渉計とディテクタユニットを丈夫でコンパクトなアルミ製ハウジングに一体化したスキャニング型干渉計です。CW光のスペクトル解析手法として確立されている走査型ファブリペロー干渉計と高分解能で簡単操作を可能にするコンフォーカル光学系の利点を一体化したスぺクトルアナライザとしてご使用頂けます。 FPI は波長範囲330~3000 nm において各種のミラーセットとフォトディテクターをご用意しています。標準で反射率(99.8%)の高反射ミラーを採用しフィネス> 400を実現しています。
価格帯
納期
用途／実績例
CWレーザー光のスペクトル解析
詳細情報
-
交換用ミラーセット・検出器、スキャンコントローラなど豊富なアクセサリ類をご用意。他波長レンジへのスケールアップを簡単に行えます。
企業情報
トプティカフォトニクス株式会社は、ドイツToptica Photonics社の日本法人でレーザーシステム・光学機器・テラヘルツ関連製品の輸入・販売・技術サービスを行っている会社です。経験豊富なスタッフがお客様の研究、開発、製造のサポートに全力を注ぎます。基礎物理分野、工学分野などの理化学研究用レーザーはもちろん、装置組込み用などの産業用レーザー製品を多数ご用意しています。ご要望の際は、お気軽にお問合せください。
