マルチプローブシステム（APT-2600FD専用オプション）

タカヤ株式会社は、愛媛大学 大学院 理工学研究科様と、『深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化』に関する共同研究を行っております。 このたび、2024年6月12日（水）～6月14日（金）　東京ビッグサイトにて開催されるJPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー 愛媛大学様ブースにて、当研究のレポートを掲示・ご紹介いただけることとなりました。また、6月14日（金）には、会場内にて本件に関するセミナー発表が行われます。また、同展示会にはタカヤも出展しており、フライングプローブテスタの実機を展示致します。 ご来場される皆様は、是非 ブース・セミナー会場に 足を運んでいただけますと幸いです。 ＊愛媛大学 ブース 　小間番号 : 3B-56（アカデミックプラザ） ＊セミナー 　日時：6月14日（金） 13:20-13:40 　会場：セミナー会場E 　セッション：3DMIDセミナー/アカデミックプラザ ＊タカヤ株式会社ブース 小間番号：4C-38（東4ホール）

第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会は、2024年3月13日（水）～ 15日（金）に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されました。 当講演大会にて、タカヤ株式会社 産業機器事業部 技術部長 柳田 が、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」の講演発表を行いました。 その際の発表資料を公開しましたので、下記、関連カタログのページより是非ご覧ください。 -------- 内容　-------- 実装基板の、確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。 この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。 それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。

平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。 来る2024年6月12日 ～ 6月14日の期間 東京ビッグサイトで開催されます「電子機器トータルソリューション展2024 / JISSO PROTEC 2024」に弊社ブースを出展する運びとなりました。 上下のフライングプローブを同時使用した 最大6プロープのコンビネーション検査で基板上面・下面への同時コンタクト検査が可能なインサーキットテスタ（ICT）「APT-1600FD-A」を展示します。 当日は 前後装置（ローダー/アンローダー）と連携させた連続自動検査のデモ展示を行います。 タカヤ株式会社ブース は 東4ホール 4C-38 です。 当展示会は「WEB登録制」です。 事前にWEBにて登録をお願いいたします。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。

タカヤ株式会社は、1/24～26 に東京ビッグサイトで開催されました 『第38回 ネプコン ジャパン』におきまして、 産業機器事業部 / RF事業部 / ソリューション事業部の合同で 多数の製品・サービスを出展致しました。 【産業機器事業部 出展内容】 ・フラッグシップモデル「APT-1600FD-A」と 　前後装置を連動させた無人連続両面検査 ・OPC-UA（OPC Unified Architecture）を用いて、 　テスタとお客様のMES（製造実行システム）を連動させ 　リアルタイムで稼働状況を管理できるシステム 展示内容に関するご質問・ご相談などございましたら、お気軽にお問い合わせください。 --- 第38回 ネプコン ジャパン -エレクトロニクス 開発・実装展 【会期】2024年1月24日[水]～1月26日[金] 【時間】10:00～17:00 【会場】東京ビッグサイト 【主催】RX Japan株式会社 ---