半導体後工程でのAC特性検査用テスター！製品のアバランシェ耐量の試験を実施可能
当社では、半導体テスターを取り扱っております。 半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、 負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。 製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■半導体後工程でのAC特性検査用テスター ■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ ■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
当社では、磁気・誘電率等を用いた微小電流測定技術、 アナログ信号処理、高速画像処理、制御技術を用いた特殊計測器・ 検査器の開発・設計・製造を行っております。 お客様に近いところで、お客様が抱える技術的な課題を解決することに、 開発技術者たちが一丸となって取り組んでまいります。
