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最終更新日:2023年09月22日

株式会社東光高岳 光応用検査機器事業本部 検査機器営業部 営業G
株式会社東光高岳 光応用検査機器事業本部 検査機器営業部 営業G
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対流加熱式でリフロープロセスを再現!20℃~300℃までの任意温度に加熱可能

『HVI-S10000C』は、計測範囲160×136mmでバンプ除去不要の 広視野温度可変反り検査装置です。 共焦点法を用いており、サンプルへの塗装や部品を除去する必要がなく、 バンプ高さ、コブラナリティに加え、基板の変形も同時に高精度な検査を実現。 Zステージに設けられたナノ分解能のリアルスケールにより、 シャッタのタイミングが制御されるため、高速でありながら正確な Z位置でのデータ取得が可能です。 【特長】 ■広視野&高速 ■バンプ除去不要 ■塗装処理不要 ■計測範囲160×136mm ■対流加熱式でリフロープロセスを再現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

    外観検査装置
img_bump-01_02_main.jpg

広視野温度可変反り検査装置『HVI-S10000C』

img_bump-01_02_main.jpg
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基本情報

【装置仕様(抜粋)】 ■計測視野サイズ:41×33mm ■計測速度:約2秒/視野(Z計測範囲:1mmの場合) ■Z計測範囲:最大4mm ■XY分解能:11.0μm ■Z分解能:0.1μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例

【主な用途】 ■HVI-S10000C-RC:リフローシミュレーション ■HVI-S10000C-EC:環境試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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広視野温度可変反り検査装置『HVI-S10000C』

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東光高岳では独自の共焦点光学系センサを取り扱っています。 三次元計測センサ「NCS/SCSシリーズ」は、高精度な計測法として知られる 共焦点法を計測原理とし、共焦点法の問題点であった計測時間を独自の手法で短縮化して インライン計測を可能とする高速性を実現しました。 従来になかった高精度かつ高速な三次元計測手法としてバンプ検査を中心に 広くご利用いただいています。 当社は先端光応用技術を用いた、高いコストパフォーマンスを誇る検査機器で、 お客様のニーズにお応えします。

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