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Flying Spot Scanner FSS310

最終更新日:2025年11月26日

プレシテック・ジャパン株式会社
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12inchウエハの全面厚み測定が可能。走査ステージレスで、振動の影響無しで高速測定。オンライン、オフライン、ウエハ検査用途に。

Flying Spot Scanner310は、XY2軸のガルバノミラーにより広範囲(~φ310)のエリアスキャンができる光学式測定器です。ステージ走査が不要なため、ステージからの振動の影響もありません。分光干渉原理により、厚み測定、寸法形状測定、表面の欠陥検査ができます。また、入射・反射が同軸光学系のため、光沢面でも良好な結果を得ることが可能です。 【特長】  ■広範囲のエリアスキャン φ310mm  ■高分解能 XY20um    ビームスポット径40um, 分光干渉方式による高Z分解能  ■XYステージ不要でステージ振動無し    ガルバノミラーによるエリアスキャン  ■開発コスト低減、開発納期短縮    装置組込み用のソフト開発キット(DLLなど)あり  ■用途    12インチウエハのウエハ全面厚み測定、貼り合わせウエハ厚み測定、ボイド検査 ※詳しくは資料をご覧ください。

    三次元測定器膜厚計
FSS310.png

光学式エリアスキャナFlying Spot Scanner310

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※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

1000万円 ~ 5000万円

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用途/実績例

12インチウエハのウエハ全面厚み測定 貼り合わせウエハ厚み測定 貼り合わせウエハボイド検査

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エリアスキャナ Flying Spot Scanner 310

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Semicon Japan 2026

  • セミナー・イベント

2026年12/9(水)~12/11(金)に東京ビッグサイトにて開催されるSemicon Japan 2026に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。   ■出品予定製品  1. 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT  2. 12'ウエハ全面厚み・形状測定用エリアスキャナ   Flying Spot Scanner(FSS)  3. 色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2  4. 色収差共焦点のラインカメラ CVC  5. 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile Mini  6. 不透明体の非接触厚み測定センサ Enovasnese

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2026年 OPIE出展情報

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4月22日~24日にパシフィコ横浜で開催されるOPIE 26'に出展致します。 ブースは、L-37 (光と画像のセンサ&イメージングEXPO)です。 3DラインセンサCLS2、シングルポイントの厚みセンサ、距離センサ、不透明体の厚み測定ができるEnovasenseを展示予定です。

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第2回九州半導体産業展

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2025年10/8(水)、10/9(木)にマリンメッセ福岡にて開催される九州半導体産業展に出展します。ご興味ある方は、是非会場までお越しください。   ■出品予定製品 分光干渉式の光学厚みセンサ CHRocodile 2 DW/ 2IT エリアスキャナプローブ Flying Spot Scanner  色収差共焦点の光学ラインセンサ CLS2 色収差共焦点の光学式シングルポイントセンサ CHRocodile 2S , C, Mini

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