R&D分野において利用出来る特長を兼ね備えた光干渉式膜厚測定装置！
『TohoSpec3100』は、ナノメトリクス社より技術移管された 光干渉式膜厚測定装置です。 多数の納入実績を誇る業界標準機で、測定再精度2Å以下を実現、 リニアアレー受光素子を採用。 高信頼性、高精度、高速をコンセプトとしており、多層膜同時測定や 光学定数(n,k)測定に利用可能です。 【特長】 ■スペクトル解析ソフトにより、多層膜（通常３層まで）の同時測定, 光学定数（n,k）の測定が可能 ■各種膜特性に適合したパラメータの設定ができ、 より豊富な各種膜構造の膜厚測定が可能 ■プロセスに適合した特殊膜測定用のプログラム設定が容易に実現可能 ■米国マイクロソフト社のWindows(R)7対応 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【仕様】 ■測定プログラム：基板材質を選ばず多層膜(通常3層膜まで)の測定が可能 ■測定波長範囲：380～800nm ■膜厚測定範囲：100Å～30μm(膜厚による) ■測定再現精度：2Å［同一ポイント15回測定時の1σ］(膜厚による) ■測定時間：0.1～25秒／1ポイント ■対物レンズ(スポットサイズ)：5倍（φ50μm） ■対物レンズオプション：10倍（φ25μm） 50倍（φ5μm） ■装置構成：可視光、フォログラフィック凹面回折格子、リニアアレー素子 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
東朋テクノロジーは、半導体検査/製造装置・通信機器などの自社製品開発、産業機器や空調の販売・工事を中心に、創意躍動の社是でお客様に貢献します。
