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K-LE-G200

最終更新日:2025年07月07日

株式会社クボタ計装
株式会社クボタ計装
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レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査(約181秒/12inch) ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用した高精度なケガキが可能 ・オプションでエッジ検査機能の搭載が可能

    半導体検査/試験装置
K-LE-G200

レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置

K-LE-G200 レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置.png
K-LE-G200 レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置.png
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基本情報

【検出】 方   式: レーザー散乱方式および正反射方式 検出サイズ: PSL50nm相当の欠陥 【レビュー機能】 顕 微 鏡: レーザー顕微鏡(レーザー共焦点・白色干渉) or 微分干渉顕微鏡 【対象基板】 種   類: 透明体を含む各種基板 サ イ ズ: 2~12inch、形状など別途相談に応じます 【装置サイズ】 外形寸法 : W1,800 x D2,100 x H1,985 (mm) 質   量: 約1200kg

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レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置(レーザー式)_K-LE-G200

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この製品に関するニュース(1)

【展示会情報】『SEMICON JAPAN 2025』に出展します

  • その他・お知らせ

半導体産業における製造技術、装置、材料の国際展示会である SEMICON JAPANにクボタの半導体検査装置を出展致します。 弊社スタッフ一同、ご来場を心よりお待ちしております。 【出展情報】 開催日時:2025年12月17日(水)~19日(金) 10:00~17:00 会  場:東京ビッグサイト 小間位置:W1963 ※ご来場には事前登録が必要です。  登録方法はSEMICON JAPANホームページをご確認ください。

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クボタは、人類の生存に欠かすことのできない食料・水・環境に関わる課題解決を通じて、豊かな社会と自然の循環を支えてきました。 クボタ精密機器事業ユニットおよびクボタ計装では「計量・計測技術」を基軸に、様々な産業で求められる、自動化・省力化、高精度での計測・制御、データ処理などのソリューションを提供し、社会の発展に貢献しています。

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