製品の弱点を早期発見~HALT試験サービスのご紹介~
HALT(Highly Accelerated Limit Test)は、非常に強い温度と振動のストレスを短時間で与えることで、製品の潜在的な弱点をあぶり出す試験手法です。 スマートフォンや通信機器など多様なデバイスで実績があり、量産前の段階で構造的欠陥や基板不具合を早期に特定し、市場でのトラブルを大幅に低減します。 過酷な条件下でも製品がどこまで耐えられるかを検証し、不具合発生時の原因追究から対策立案までトータルにサポートいたします。 詳細はこちらのページをご覧ください https://www.toray-research.co.jp/analysis-evaluation/ana_071.html