技術資料集｜信頼性評価・安全性評価・故障解析・分析

当社は新たに、「電子部品 故障解析・信頼性評価 サービスカタログ」を公開いたしました。 本カタログには、プリント基板やコネクタ・ケーブル、受動部品を対象とした不具合の原因調査や、信頼性評価に役立つサービスメニューをご紹介しています。 また、故障解析・信頼性評価の試験方法に加え、実際の解析事例・評価事例も掲載しています。 掲載事例の一つとして、ハンマリング微加振試験があります。 本試験は、コネクタの接触不良リスクを評価するもので、接点の微小な摺動による摩耗を再現し、接触抵抗の変化や瞬断を捉えることが可能です。 カタログでは、同一資料に対する振動試験と微加振試験の比較評価事例を掲載しており、それぞれの試験によって得られる結果の違いをご確認いただけます。 このほかにも、様々な試験とその評価・解析事例を掲載しております。 電子部品の不具合調査や、信頼性評価の委託先をご検討に、ぜひご活用ください。 また、評価・解析に関するご相談も承っておりますので、お気軽にお問い合わせください。

量子コンピュータ、AIサーバー、光電融合システムの実用化が進む中、プリント基板にはこれまで以上の高多層・大面積・高速伝送が求められています。 その一方で、配線間隔や層間距離の微細化により、わずかな異物やイオン性残渣が絶縁不良の原因となり、短絡や局所発熱、さらには焼損につながるリスクが高まっています。 特にAIサーバーや高速通信基板、半導体パッケージ基板では、微小な絶縁劣化がシステム全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。また、焼損後には原因となる異物や導電経路が消失し、不具合解析が困難になるケースも少なくありません。 ユーロフィンFQLでは、部品実装前の生板段階で高度な絶縁性評価試験を実施し、潜在的なリスクを早期に可視化します。 ✔ 不具合の未然防止 ✔ 品質・信頼性の向上 ✔ 解析コストや手戻り工数の削減 量子コンピュータ向け先端パッケージ基板からAIサーバー向け高性能基板、光電融合向け超高速伝送基板まで、高信頼性製品の実現をサポートしています。 次世代技術を支える基板品質について、ぜひご相談ください。